观察装置及其控制方法、测定系统、培养容器、记录介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710145131.2
申请日
2017-03-13
公开(公告)号
CN107227258A
公开(公告)日
2017-10-03
发明(设计)人
望月良祐 松桥贵之
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
C12M300
IPC分类号
C12M136
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
李辉;黄纶伟
法律状态
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码
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共 50 条
[1]
观察装置、测定系统、观察方法以及记录介质 [P]. 
网野宏树 ;
川口胜久 ;
青田幸治 ;
野中修 .
中国专利 :CN107151627A ,2017-09-12
[2]
观察装置、观察装置的控制方法和记录介质 [P]. 
青木崇人 .
中国专利 :CN107613217A ,2018-01-19
[3]
观察装置、观察装置的控制方法和记录介质 [P]. 
青木崇人 .
中国专利 :CN107699477A ,2018-02-16
[4]
培养容器、培养观察装置和培养观察方法 [P]. 
田中英一 ;
芳贺伸介 ;
长谷川真 ;
皆川达也 ;
堂胁优 ;
松居惠理子 .
中国专利 :CN103667055A ,2014-03-26
[5]
观察装置、观察方法和记录介质 [P]. 
樱井步 ;
小林三奈 ;
服部敏征 ;
有贺尚洋 ;
三由贵史 .
中国专利 :CN108802991A ,2018-11-13
[6]
多层培养容器观察系统、托架装置及多层培养容器观察装置 [P]. 
田边广幸 ;
河田康臣 ;
小野和弘 ;
松冈昇治 .
中国专利 :CN112243456A ,2021-01-19
[7]
培养观察装置及培养观察系统 [P]. 
木村博之 .
中国专利 :CN105524833A ,2016-04-27
[8]
记录装置、图像观察装置、观察系统、观察系统的控制方法及存储介质 [P]. 
堀江原 .
日本专利 :CN112584738B ,2024-04-23
[9]
培养容器以及观察系统 [P]. 
青木秀年 .
中国专利 :CN114686376A ,2022-07-01
[10]
光学测定系统、光学测定方法以及记录介质 [P]. 
川口史朗 ;
中岛一八 ;
泷泽勇人 ;
前田吾郎 .
中国专利 :CN115112026A ,2022-09-27