一种SD卡测试方法和测试设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510464686.4

申请日：

2015-07-31

公开(公告)号：

CN105004957A

公开(公告)日：

2015-10-28

发明(设计)人：

林涛

申请人：

申请人地址：

350003 福建省福州市鼓楼区软件大道89号18号楼

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

福州市景弘专利代理事务所(普通合伙) 35219

代理人：

林祥翔;吕元辉

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-09-14	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G11C 29/08 申请公布日:20151028
2015-11-25	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101634428001 IPC(主分类):G01R 31/00 专利申请号:2015104646864 申请日:20150731
2015-10-28	公开	公开

共 50 条

[1]

一种CF卡和SD卡的测试设备 [P].

王金云 ;

常胜 ;

段中雄 ;

安平宇 ;

胡松钊 .

中国专利 :CN206672643U ,2017-11-24

[2]

一种SD卡下压测试设备 [P].

汪浩 ;

梁俊 ;

任致林 ;

黄煜凯 ;

杨栋 ;

全秀花 .

中国专利 :CN222394581U ,2025-01-24

[3]

一种多通道SD卡测试设备 [P].

许创鸿 .

中国专利 :CN223401238U ,2025-09-30

[4]

一种SD卡自动组装及测试设备 [P].

郑安朋 ;

姚泽林 ;

曹俊 .

中国专利 :CN209140287U ,2019-07-23

[5]

一种SD卡自动组装及测试设备 [P].

郑安朋 ;

姚泽林 ;

曹俊 .

中国专利 :CN109262259A ,2019-01-25

[6]

一种SD卡测试治具 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

周阳光 .

中国专利 :CN223217534U ,2025-08-12

[7]

一种多SAM卡模块测试电路、测试设备和测试方法 [P].

陈建斌 ;

王恒辉 .

中国专利 :CN105911452A ,2016-08-31

[8]

一种专用于SD NAND卡的测试设备 [P].

黄少娃 .

中国专利 :CN211016552U ,2020-07-14

[9]

测试探针卡和测试设备 [P].

吕娅 ;

何骁伟 ;

顾向前 ;

齐飞 .

中国专利 :CN117330800A ,2024-01-02

[10]

一种测试方法和测试设备 [P].

裴蕾 ;

张君鸿 ;

鲁连军 ;

汪爽 ;

荀野 .

中国专利 :CN104699594A ,2015-06-10

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