测试方法、测试装置、电子设备及可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010804100.5
申请日
2020-08-11
公开(公告)号
CN111813694A
公开(公告)日
2020-10-23
发明(设计)人
钟瑞 郑重 刘明磊 陈壮壮
申请人
申请人地址
100140 北京市西城区复兴门内大街55号
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
鄢功军
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
测试方法、测试装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
钟瑞 ;
郑重 ;
刘明磊 ;
陈壮壮 .
中国专利 :CN111813694B ,2024-03-15
[2]
测试方法、测试装置、电子设备和可读存储介质 [P]. 
孔军 ;
王超 ;
廖伟达 .
中国专利 :CN111782497A ,2020-10-16
[3]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
水洋为 ;
唐苗苗 ;
孙铭鸿 .
中国专利 :CN120631754A ,2025-09-12
[4]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王越 ;
王欣 ;
李佩刚 ;
苏畅 ;
周荣林 ;
高建瓴 .
中国专利 :CN113220597B ,2024-04-16
[5]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
张珺 ;
农华莲 ;
韩照光 .
中国专利 :CN113297088A ,2021-08-24
[6]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王越 ;
王欣 ;
李佩刚 ;
苏畅 ;
周荣林 ;
高建瓴 .
中国专利 :CN113220597A ,2021-08-06
[7]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
赵建秀 .
中国专利 :CN113190456B ,2024-03-26
[8]
测试方法、测试装置、电子设备及存储介质 [P]. 
赵建秀 .
中国专利 :CN113190456A ,2021-07-30
[9]
测试方法、测试装置、存储介质及电子设备 [P]. 
刘孙春 .
中国专利 :CN118694840A ,2024-09-24
[10]
对象测试方法、对象测试装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
陈琦 ;
王文春 ;
王江娟 ;
张春艳 .
中国专利 :CN113127362B ,2024-11-05