硬盘性能检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811520646.7
申请日
2018-12-12
公开(公告)号
CN109614306A
公开(公告)日
2019-04-12
发明(设计)人
许智杰
申请人
申请人地址
510620 广东省广州市天河区黄埔大道西平云路163号A塔9层自编01单元
IPC主分类号
G06F1134
IPC分类号
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
罗满
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
硬盘性能测试方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
殷延蕊 .
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[2]
硬盘延迟检测方法、装置及计算机可读存储介质 [P]. 
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田锴 ;
祝国亮 .
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[3]
路径性能检测方法、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
王超 ;
高鹏 ;
彭少丽 ;
王月梅 .
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[4]
一种硬盘检测方法、系统、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
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[5]
缓存检测方法、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
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[6]
性能检测方法、性能检测装置以及计算机可读存储介质 [P]. 
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刘德龙 ;
林贤早 .
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[7]
震颤功率检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
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[8]
检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
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[9]
检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
周亮宇 ;
朱慧鹏 .
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[10]
检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
周亮宇 ;
朱慧鹏 .
中国专利 :CN112131130B ,2025-07-11