光学元件疵病检测中显微成像景深延拓的方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610634087.7

申请日：

2016-08-04

公开(公告)号：

CN107688027A

公开(公告)日：

2018-02-13

发明(设计)人：

武东城刘江苗二龙高松涛张敏隋永新杨怀江

申请人：

申请人地址：

130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号

IPC主分类号：

G01N2195

IPC分类号：

G01N2101 G06F1750

代理机构：

深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316

代理人：

郝明琴

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-02-13	公开	公开
2019-06-25	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/95 申请日:20160804
2022-04-29	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 21/95 申请公布日:20180213

共 50 条

[1]

一种显微成像景深延拓的方法及显微成像装置 [P].

武东城 ;

刘江 ;

苗二龙 ;

高松涛 ;

张敏 ;

隋永新 ;

杨怀江 .

中国专利 :CN106248692A ,2016-12-21

[2]

一种显微成像景深延拓的方法及显微成像装置 [P].

武东城 ;

刘江 ;

苗二龙 ;

高松涛 ;

张敏 ;

隋永新 ;

杨怀江 .

中国专利 :CN106338523A ,2017-01-18

[3]

高精度光学元件的表面疵病检测装置及检测方法 [P].

刘江 ;

钟兴 ;

李艳杰 ;

孟瑶 ;

苏志强 ;

马驰 .

中国专利 :CN108152299A ,2018-06-12

[4]

光学元件表面疵病检测的摄像头扫描方法和装置 [P].

王红军 ;

王文琦 ;

田爱玲 ;

刘丙才 ;

朱学亮 ;

岳鑫 ;

刘卫国 .

中国专利 :CN119845959B ,2025-12-26

[5]

光学元件表面疵病检测的摄像头扫描方法和装置 [P].

王红军 ;

王文琦 ;

田爱玲 ;

刘丙才 ;

朱学亮 ;

岳鑫 ;

刘卫国 .

中国专利 :CN119845959A ,2025-04-18

[6]

大型平面光学元件表面疵病的检测装置和检测方法 [P].

范永涛 ;

徐学科 ;

顿爱欢 .

中国专利 :CN107064173A ,2017-08-18

[7]

光学元件表面疵病检测装置 [P].

徐建程 ;

侯园园 ;

陈曌 .

中国专利 :CN204479492U ,2015-07-15

[8]

用于球面光学元件表面疵病暗场检测的照明系统及方法 [P].

杨甬英 ;

刘东 ;

李璐 ;

曹频 .

中国专利 :CN103293162A ,2013-09-11

[9]

光学平面表面疵病的激光散射检测系统 [P].

程兆谷 ;

覃兆宇 ;

张志平 ;

黄惠杰 ;

钱红斌 ;

朱健强 .

中国专利 :CN101135653A ,2008-03-05

[10]

基于超快显微成像的大口径光学元件高速检测系统 [P].

高磊 ;

刘艾 ;

彭琛 ;

朱涛 .

中国专利 :CN113624453B ,2021-11-09

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