基于并行多狭缝结构照明的微观表面形貌测量方法及装置

被引：0

申请号：

CN202210584700.4

申请日：

2022-05-26

公开(公告)号：

CN115014242A

公开(公告)日：

2022-09-06

发明(设计)人：

胡明亮刘晓军黄进康柴常春叶卓杭

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

G01B1125

IPC分类号：

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

孔娜

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-06	公开	公开
2022-09-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20220526

共 50 条

[1]

基于灰度深度的表面微观形貌测量方法 [P].

覃科 ;

郑利华 ;

吕勇 .

中国专利 :CN120374534B ,2025-10-14

[2]

基于灰度深度的表面微观形貌测量方法 [P].

覃科 ;

郑利华 ;

吕勇 .

中国专利 :CN120374534A ,2025-07-25

[3]

一种复杂表面形貌测量方法及测量系统 [P].

刘晓军 ;

柴常春 ;

曲通 .

中国专利 :CN117607041A ,2024-02-27

[4]

基于逐像素调控的高动态结构照明形貌测量方法及装置 [P].

曲通 ;

刘晓军 ;

柴常春 .

中国专利 :CN117490613A ,2024-02-02

[5]

一种基于连续垂直扫描结构照明的三维形貌测量方法及系统 [P].

曲通 ;

刘晓军 ;

柴常春 ;

周锡备 .

中国专利 :CN119803343B ,2025-10-14

[6]

一种基于连续垂直扫描结构照明的三维形貌测量方法及系统 [P].

曲通 ;

刘晓军 ;

柴常春 ;

周锡备 .

中国专利 :CN119803343A ,2025-04-11

[7]

一种微观表面形貌测量装置及方法 [P].

郭贵中 ;

侯树森 ;

付欢 ;

李晓堃 ;

李峥 .

中国专利 :CN112985251B ,2021-06-18

[8]

物体微观表面形貌的光学五自由度测量装置及测量方法 [P].

田应仲 ;

齐济 ;

张雯君 .

中国专利 :CN104807494A ,2015-07-29

[9]

工件表面形貌精密测量装置及测量方法 [P].

戴强 ;

徐彦德 .

中国专利 :CN101403608A ,2009-04-08

[10]

形貌测量设备、形貌测量装置及测量方法 [P].

马勋亮 .

中国专利 :CN118089582A ,2024-05-28

← 1 2 3 4 5 →