一种样本分析系统、自动质控方法及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011000508.3

申请日：

2020-09-22

公开(公告)号：

CN114252634A

公开(公告)日：

2022-03-29

发明(设计)人：

姜斌

申请人：

申请人地址：

518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园区科技南十二路迈瑞大厦

IPC主分类号：

G01N3500

IPC分类号：

G01N131 G01N130 G01N128

代理机构：

北京派特恩知识产权代理有限公司 11270

代理人：

赵翠萍;张颖玲

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-29	公开	公开

共 50 条

[1]

一种应用于样本分析仪的自动质控方法及样本分析仪 [P].

郭中华 ;

刘杰 ;

李锐 ;

田雨 ;

李思 .

中国专利 :CN119689006A ,2025-03-25

[2]

一种样本分析系统、样本调度方法及存储介质 [P].

林扬 ;

温贵 ;

鞠文涛 ;

王俊 .

中国专利 :CN111624356A ,2020-09-04

[3]

样本分析方法、系统及存储介质 [P].

姜斌 ;

李学荣 ;

余珊 .

中国专利 :CN114324920A ,2022-04-12

[4]

一种样本分析仪、样本分析方法及存储介质 [P].

李爱博 ;

李冬冬 ;

谢俊斌 .

中国专利 :CN110927397A ,2020-03-27

[5]

样本分析系统及样本分析方法、电子设备及存储介质 [P].

郑文波 ;

饶林尚 ;

王扬洋 ;

叶波 ;

夏野 ;

王亚青 .

中国专利 :CN119780402A ,2025-04-08

[6]

一种样本分析仪、样本分析方法及存储介质 [P].

李爱博 ;

李冬冬 ;

谢俊斌 .

中国专利 :CN110927397B ,2024-03-08

[7]

一种样本分析方法、样本分析系统及计算机存储介质 [P].

冷知见 ;

邓鑫 .

中国专利 :CN110875086B ,2024-04-12

[8]

一种样本分析方法、样本分析系统及计算机存储介质 [P].

冷知见 ;

邓鑫 .

中国专利 :CN110875086A ,2020-03-10

[9]

样本分析系统、样本分析装置及样本分析方法 [P].

小田哲也 ;

桑野桂辅 ;

福间大吾 ;

有吉俊辅 .

中国专利 :CN103348250B ,2013-10-09

[10]

样本分析装置、样本分析方法及样本分析系统 [P].

加藤拓马 ;

福间大吾 ;

滨田雄一 .

中国专利 :CN103364575B ,2013-10-23

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