测试电子设备的测试前端模块、测试方法和模块化测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510280254.8

申请日：

2015-05-27

公开(公告)号：

CN106199231A

公开(公告)日：

2016-12-07

发明(设计)人：

延斯·沃克曼托马斯·卢兹瓦尔特·斯密兹

申请人：

申请人地址：

德国慕尼黑

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

王波波

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-26	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/00 申请公布日:20161207
2017-01-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101695160185 IPC(主分类):G01R 31/00 专利申请号:2015102802548 申请日:20150527
2016-12-07	公开	公开

共 50 条

[1]

测试电子设备的测试前端模块、测试方法和模块化测试系统 [P].

戈特弗雷德·奥尔茨曼 ;

拉尔夫·布劳曼 ;

彼得·沃拉宁 ;

威尔弗雷德·迪林 ;

鲁道夫·申德梅尔 ;

拉尔夫·洛伦森 ;

安东·施泰内戈尔 ;

维尔纳·米特迈尔 .

中国专利 :CN106199230A ,2016-12-07

[2]

测试系统、测试方法和电子设备 [P].

方友平 ;

唐相伟 ;

孙炎军 ;

郑弘佑 .

中国专利 :CN119224444A ,2024-12-31

[3]

电子设备、测试系统和测试方法 [P].

殷军亮 .

中国专利 :CN115514431A ,2022-12-23

[4]

测试方法、测试系统和电子设备 [P].

卿德奇 ;

朱少华 ;

李振宇 ;

田杰 .

中国专利 :CN119232921A ,2024-12-31

[5]

电子设备的测试系统及测试方法 [P].

杨振西 ;

吴安华 .

中国专利 :CN104506854B ,2015-04-08

[6]

模块化功能测试系统 [P].

邢超 ;

刘明群 ;

李胜男 ;

何鑫 ;

郭成 ;

覃日升 ;

徐志 ;

何廷一 .

中国专利 :CN111175601A ,2020-05-19

[7]

用于模块化振动测量系统的基本模块和/或测量系统电子单元的测试模块、测试系统和测试装置 [P].

迈克尔·基斯特 .

:CN118103678A ,2024-05-28

[8]

芯片的测试方法、测试系统和电子设备 [P].

樊晓婷 ;

仪亮 ;

余洪波 ;

黎嘉欣 .

中国专利 :CN117594470A ,2024-02-23

[9]

测试模块、测试方法以及测试系统 [P].

王景正 ;

石俊杰 .

中国专利 :CN102749531A ,2012-10-24

[10]

逻辑模块测试系统和测试方法 [P].

李路云 ;

马丛山 .

中国专利 :CN1900731B ,2007-01-24

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