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一种平面度的激光测量装置及方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201910649019.1
申请日：
2019-07-18
公开(公告)号：
CN110207626A
公开(公告)日：
2019-09-06
发明(设计)人：
智耕
申请人：
申请人地址：
100854 北京市海淀区永定路50号59楼
IPC主分类号：
G01B1130
IPC分类号：
代理机构：
北京轻创知识产权代理有限公司 11212
代理人：
陈熙
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2019-10-08 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/30 申请日:20190718
2019-09-06 公开 公开
共 50 条
[1]
一种激光测量装置及激光测量方法 [P]. 
贺行健 ;
陈虎 ;
于本宏 ;
宫兴林 ;
郝天阳 ;
林阳 ;
李兴岳 ;
于畅 ;
邓鑫 .
中国专利 :CN114274017A ,2022-04-05
[2]
一种激光测量装置及激光测量方法 [P]. 
贺行健 ;
陈虎 ;
于本宏 ;
宫兴林 ;
郝天阳 ;
林阳 ;
李兴岳 ;
于畅 ;
邓鑫 .
中国专利 :CN114274017B ,2025-08-05
[3]
一种对中误差的激光测量装置 [P]. 
杨兆军 ;
王松 ;
许彬彬 ;
朱小翠 ;
谭壮 ;
黎刚刚 ;
杜大伟 ;
杨超 ;
刘国飞 ;
冉魏 .
中国专利 :CN204612675U ,2015-09-02
[4]
一种对中误差的激光测量装置 [P]. 
杨兆军 ;
王松 ;
许彬彬 ;
朱小翠 ;
谭壮 ;
黎刚刚 ;
杜大伟 ;
杨超 ;
刘国飞 ;
冉魏 .
中国专利 :CN104457623A ,2015-03-25
[5]
激光测量装置及激光测量方法 [P]. 
笹川正 ;
夏目佳史 ;
寺冈延尉 ;
浅沼俊一 .
中国专利 :CN101253386A ,2008-08-27
[6]
一种用于薄片砂轮平面度检测的激光测量装置 [P]. 
师超钰 ;
冯克明 ;
朱建辉 .
中国专利 :CN205561783U ,2016-09-07
[7]
一种用于平面度变形量检测的激光测量装置 [P]. 
李斌 ;
刘航 ;
徐爱国 ;
张仕祥 .
中国专利 :CN211527347U ,2020-09-18
[8]
一种用于薄片砂轮平面度检测的激光测量装置 [P]. 
赵辉 .
中国专利 :CN207300183U ,2018-05-01
[9]
一种合成纤维粗细度激光测量装置及测量方法 [P]. 
陈兴华 ;
卓志明 .
中国专利 :CN120445066A ,2025-08-08
[10]
一种平面度测量装置及测量方法 [P]. 
张军 ;
赵涵 ;
陈毅 .
中国专利 :CN110186363A ,2019-08-30
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