一种BGA封装嵌入式存储器

被引：0

申请号：

CN202222147717.1

申请日：

2022-08-16

公开(公告)号：

CN217880854U

公开(公告)日：

2022-11-22

发明(设计)人：

罗锡彦唐明星潘锋李伟刁斌

申请人：

申请人地址：

518115 广东省深圳市龙岗区园山街道保安社区坳二路30号厂房1号楼201

IPC主分类号：

G11B3314

IPC分类号：

G11B3304 G11B3312

代理机构：

深圳华屹智林知识产权代理事务所(普通合伙) 44785

代理人：

华江瑞

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-22	授权	授权

共 50 条

[1]

BGA封装嵌入式存储器和智能穿戴电子设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘小刚 .

中国专利 :CN215679303U ,2022-01-28

[2]

一种嵌入式存储器 [P].

胡华霖 .

中国专利 :CN212541338U ,2021-02-12

[3]

嵌入式存储器模组 [P].

吴勇志 .

中国专利 :CN2798310Y ,2006-07-19

[4]

嵌入式存储器 [P].

武泽翰 ;

曹永赞 .

中国专利 :CN110690223B ,2020-01-14

[5]

一种芯片用嵌入式存储器 [P].

薛力群 ;

罗锡彦 ;

赖辰辰 .

中国专利 :CN221679452U ,2024-09-10

[6]

嵌入式存储器测试系统 [P].

拉古拉姆·达莫达兰 ;

纳韦恩·布霍里亚 ;

阿曼·科克拉迪 .

中国专利 :CN103871478A ,2014-06-18

[7]

嵌入式存储器测试系统 [P].

拉古拉姆·达莫达兰 ;

纳韦恩·布霍里亚 ;

阿曼·科克拉迪 .

中国专利 :CN103871476A ,2014-06-18

[8]

嵌入式存储器测试方法 [P].

谢晋春 ;

辛吉升 .

中国专利 :CN108899060A ,2018-11-27

[9]

嵌入式存储器测试系统 [P].

拉古拉姆·达莫达兰 ;

纳韦恩·布霍里亚 ;

阿曼·科克拉迪 .

中国专利 :CN103871477A ,2014-06-18

[10]

嵌入式存储器测试系统 [P].

拉古拉姆·达莫达兰 ;

纳韦恩·布霍里亚 ;

阿曼·科克拉迪 .

中国专利 :CN103871479B ,2014-06-18

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