测量间隙模式

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201580004996.6

申请日：

2015-01-22

公开(公告)号：

CN106416350A

公开(公告)日：

2017-02-15

发明(设计)人：

阳·唐姚丽娟黄睿张玉建

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

H04W2408

IPC分类号：

H04W8808

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258

代理人：

孙洋

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-02-15	公开	公开
2020-04-24	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):H04W 24/08 登记生效日:20200407 变更事项:专利权人变更前权利人:英特尔公司变更后权利人:苹果公司变更事项:地址变更前权利人:美国加利福尼亚州变更后权利人:美国加利福尼亚州
2020-04-24	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):H04W 24/08 登记生效日:20200407 变更事项:专利权人变更前权利人:英特尔IP公司变更后权利人:英特尔公司变更事项:地址变更前权利人:美国加利福尼亚州变更后权利人:美国加利福尼亚州
2017-03-15	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101707265456 IPC(主分类):H04W 24/08 专利申请号:2015800049966 申请日:20150122
2019-12-10	授权	授权
2022-12-30	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H04W 24/08 申请日:20150122 授权公告日:20191210 终止日期:20220122

共 50 条

[1]

确定测量间隙模式 [P].

T·恩托南 ;

T·E·伦蒂拉 ;

B·P·塞比尔 .

中国专利 :CN106664539A ,2017-05-10

[2]

配置测量间隙模式 [P].

贺敬 ;

A·阿里 ;

T·恩托南 ;

吴春丽 .

中国专利 :CN112640517B ,2024-06-25

[3]

配置测量间隙模式 [P].

贺敬 ;

A·阿里 ;

T·恩托南 ;

吴春丽 .

中国专利 :CN112640517A ,2021-04-09

[4]

并发测量间隙模式中的间隙消除 [P].

J·艾克斯蒙 ;

唐治汛 ;

M·A·卡兹米 .

:CN117397282A ,2024-01-12

[5]

并发测量间隙模式中的间隙消除 [P].

J·艾克斯蒙 ;

唐治汛 ;

M·A·卡兹米 .

中国专利 :CN118741588A ,2024-10-01

[6]

NE-DC模式的测量间隙设计 [P].

崔杰 ;

唐扬 ;

李启明 ;

Y·周 ;

何宏 .

中国专利 :CN113647139A ,2021-11-12

[7]

NE-DC模式的测量间隙设计 [P].

崔杰 ;

唐扬 ;

李启明 ;

Y·周 ;

何宏 .

美国专利 :CN113647139B ,2025-01-07

[8]

动态测量间隙控制 [P].

J·鲍 ;

S·阿卡拉卡兰 ;

骆涛 ;

A·马诺拉科斯 ;

J·蒙托霍 .

美国专利 :CN116326186B ,2025-12-12

[9]

测量间隙配置与协调 [P].

程鹏 .

美国专利 :CN112771924B ,2024-03-08

[10]

间隙测量装置、间隙测量传感器及间隙测量方法 [P].

福山美笑 ;

近藤明生 ;

大西智之 ;

宫本贵洋 .

中国专利 :CN110546453A ,2019-12-06

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