一种基于电成像孔隙度谱的孔隙结构参数计算方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810200599.1
申请日
2018-03-12
公开(公告)号
CN108562944A
公开(公告)日
2018-09-21
发明(设计)人
崔式涛 孙佩 刘春雷 李娜 王谦 段朝伟 牟明洋
申请人
申请人地址
100007 北京市东城区东直门北大街9号
IPC主分类号
G01V338
IPC分类号
G01V318
代理机构
西安通大专利代理有限责任公司 61200
代理人
姚咏华
法律状态
实质审查的生效
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共 50 条
[1]
基于电成像孔隙度谱的渗透率计算方法及系统 [P]. 
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金武军 ;
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[2]
基于孔隙类型识别的孔隙结构参数计算方法 [P]. 
王海涛 ;
赖富强 ;
谭先锋 ;
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[3]
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[4]
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傅强 ;
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许淑梅 ;
赵文君 ;
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李庆峰 ;
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[5]
裂缝发育段基于电成像孔隙度谱的补偿声波校正方法 [P]. 
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李进 ;
常静春 ;
屈翠侠 ;
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[6]
一种基于多谱孔隙结构分析的饱和度确定方法 [P]. 
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冯庆付 ;
李庆峰 ;
董丽欣 .
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[7]
一种基于常规测井资料构建孔隙结构综合参数的方法 [P]. 
杨亮 ;
战丽颖 ;
赵家宏 ;
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王武学 ;
郭巍 ;
孙迪 ;
张桠楠 ;
叶丹琦 ;
邓腾飞 .
中国专利 :CN119914251A ,2025-05-02
[8]
基于刻度电成像次生孔隙度谱截止值获取次生孔隙度的方法 [P]. 
冯进 ;
管耀 ;
高楚桥 ;
赵彬 ;
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[9]
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何润 ;
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中国专利 :CN114371508B ,2025-04-25
[10]
基于电成像测井孔隙度谱信息自动识别储层裂缝的方法 [P]. 
张翔 ;
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