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一种基于IC元件的测试机
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201721485566.3
申请日
:
2017-11-07
公开(公告)号
:
CN207601211U
公开(公告)日
:
2018-07-10
发明(设计)人
:
赵金辉
高明辉
申请人
:
申请人地址
:
519000 广东省珠海市金湾区三灶镇金海工业区春华路6号
IPC主分类号
:
G01R3102
IPC分类号
:
代理机构
:
北京久维律师事务所 11582
代理人
:
邢江峰
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-07-10
授权
授权
2020-10-27
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/02 申请日:20171107 授权公告日:20180710 终止日期:20191107
共 50 条
[1]
一种IC模块测试机
[P].
巨琳辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
巨琳辉
.
中国专利
:CN2890941Y
,2007-04-18
[2]
温控元件测试机
[P].
庄素芬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
庄素芬
.
中国专利
:CN2268932Y
,1997-11-26
[3]
一种IC测试机连接装置
[P].
刘文霖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
渠梁电子有限公司
渠梁电子有限公司
刘文霖
;
陈志文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
渠梁电子有限公司
渠梁电子有限公司
陈志文
;
林其达
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
渠梁电子有限公司
渠梁电子有限公司
林其达
.
中国专利
:CN221900245U
,2024-10-25
[4]
一种全自动IC测试机
[P].
李雅媚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李雅媚
.
中国专利
:CN208367048U
,2019-01-11
[5]
IC测试机的加热装置
[P].
江俊达
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
江俊达
;
詹淙钤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
詹淙钤
.
中国专利
:CN209640375U
,2019-11-15
[6]
IC测试机
[P].
朱海东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱海东
.
中国专利
:CN301122273D
,2010-01-27
[7]
一种电感元件的自动测试机
[P].
代祥军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
代祥军
;
陈飞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈飞
.
中国专利
:CN211914664U
,2020-11-13
[8]
IC测试机的压持装置
[P].
江俊达
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
江俊达
;
詹淙钤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
詹淙钤
.
中国专利
:CN209640382U
,2019-11-15
[9]
一种电子元件分拣测试机
[P].
王天华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王天华
;
孙林华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙林华
.
中国专利
:CN209379470U
,2019-09-13
[10]
一种IC芯片测试机的收料装置
[P].
郭寂波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郭寂波
.
中国专利
:CN213689864U
,2021-07-13
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