一种基于IC元件的测试机

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201721485566.3
申请日
2017-11-07
公开(公告)号
CN207601211U
公开(公告)日
2018-07-10
发明(设计)人
赵金辉 高明辉
申请人
申请人地址
519000 广东省珠海市金湾区三灶镇金海工业区春华路6号
IPC主分类号
G01R3102
IPC分类号
代理机构
北京久维律师事务所 11582
代理人
邢江峰
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种IC模块测试机 [P]. 
巨琳辉 .
中国专利 :CN2890941Y ,2007-04-18
[2]
温控元件测试机 [P]. 
庄素芬 .
中国专利 :CN2268932Y ,1997-11-26
[3]
一种IC测试机连接装置 [P]. 
刘文霖 ;
陈志文 ;
林其达 .
中国专利 :CN221900245U ,2024-10-25
[4]
一种全自动IC测试机 [P]. 
李雅媚 .
中国专利 :CN208367048U ,2019-01-11
[5]
IC测试机的加热装置 [P]. 
江俊达 ;
詹淙钤 .
中国专利 :CN209640375U ,2019-11-15
[6]
IC测试机 [P]. 
朱海东 .
中国专利 :CN301122273D ,2010-01-27
[7]
一种电感元件的自动测试机 [P]. 
代祥军 ;
陈飞 .
中国专利 :CN211914664U ,2020-11-13
[8]
IC测试机的压持装置 [P]. 
江俊达 ;
詹淙钤 .
中国专利 :CN209640382U ,2019-11-15
[9]
一种电子元件分拣测试机 [P]. 
王天华 ;
孙林华 .
中国专利 :CN209379470U ,2019-09-13
[10]
一种IC芯片测试机的收料装置 [P]. 
郭寂波 .
中国专利 :CN213689864U ,2021-07-13