片上系统芯片和对片上系统芯片进行测试的方法

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专利类型
发明
申请号
CN200810168225.2
申请日
2008-10-06
公开(公告)号
CN101713813B
公开(公告)日
2010-05-26
发明(设计)人
陶建平
申请人
申请人地址
518057 广东省深圳市南山区科技南路55号
IPC主分类号
G01R31317
IPC分类号
代理机构
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人
尚志峰;吴孟秋
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
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