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一种铸造X射线荧光分析样品的模具
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201420338803.3
申请日
:
2014-06-24
公开(公告)号
:
CN204064756U
公开(公告)日
:
2014-12-31
发明(设计)人
:
魏纯玉
曹爱青
徐增芹
宋兰会
张宪芹
张成亮
李萍
唐海燕
邵智慧
申请人
:
申请人地址
:
250101 山东省济南市历城区工业北路21号
IPC主分类号
:
G01N128
IPC分类号
:
G01N23223
代理机构
:
济南诚智商标专利事务所有限公司 37105
代理人
:
王汝银
法律状态
:
专利权的终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-07-13
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 1/28 申请日:20140624 授权公告日:20141231 终止日期:20170624
2014-12-31
授权
授权
共 50 条
[1]
一种X射线荧光分析装置
[P].
韩晓朋
论文数:
0
引用数:
0
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韩晓朋
.
中国专利
:CN201600338U
,2010-10-06
[2]
一种用于X射线荧光分析样品的检测前存放装置
[P].
陈美华
论文数:
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机构:
中国地质调查局长沙自然资源综合调查中心
中国地质调查局长沙自然资源综合调查中心
陈美华
;
付利龙
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机构:
中国地质调查局长沙自然资源综合调查中心
中国地质调查局长沙自然资源综合调查中心
付利龙
;
曹洁
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0
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机构:
中国地质调查局长沙自然资源综合调查中心
中国地质调查局长沙自然资源综合调查中心
曹洁
;
钟奕昕
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0
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机构:
中国地质调查局长沙自然资源综合调查中心
中国地质调查局长沙自然资源综合调查中心
钟奕昕
;
寻看雨
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0
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机构:
中国地质调查局长沙自然资源综合调查中心
中国地质调查局长沙自然资源综合调查中心
寻看雨
;
姚慧敏
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机构:
中国地质调查局长沙自然资源综合调查中心
中国地质调查局长沙自然资源综合调查中心
姚慧敏
;
颜巧丽
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机构:
中国地质调查局长沙自然资源综合调查中心
中国地质调查局长沙自然资源综合调查中心
颜巧丽
.
中国专利
:CN221883499U
,2024-10-22
[3]
样品架以及侧照式X射线荧光分析装置
[P].
高原晃里
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机构:
株式会社理学
株式会社理学
高原晃里
;
青柳光一
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机构:
株式会社理学
株式会社理学
青柳光一
;
池坂健词
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机构:
株式会社理学
株式会社理学
池坂健词
;
冈要平
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机构:
株式会社理学
株式会社理学
冈要平
.
日本专利
:CN222838021U
,2025-05-06
[4]
荧光X射线分析装置
[P].
松田涉
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机构:
株式会社理学
株式会社理学
松田涉
;
山本恭之
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机构:
株式会社理学
株式会社理学
山本恭之
;
片冈由行
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机构:
株式会社理学
株式会社理学
片冈由行
.
日本专利
:CN117460950B
,2024-12-27
[5]
荧光X射线分析装置
[P].
松田涉
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机构:
株式会社理学
株式会社理学
松田涉
;
山本恭之
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机构:
株式会社理学
株式会社理学
山本恭之
;
片冈由行
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机构:
株式会社理学
株式会社理学
片冈由行
.
日本专利
:CN117460950A
,2024-01-26
[6]
X射线荧光分析设备
[P].
刘海文
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0
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刘海文
.
中国专利
:CN205538758U
,2016-08-31
[7]
一种基于X射线荧光的液体样品分析装置
[P].
赵彦春
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赵彦春
;
李福生
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李福生
;
杨婉琪
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0
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杨婉琪
.
中国专利
:CN216594876U
,2022-05-24
[8]
在线X射线荧光分析模组及在线X射线荧光分析装置
[P].
张振伟
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0
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机构:
汉民科技股份有限公司
汉民科技股份有限公司
张振伟
.
中国专利
:CN120404817A
,2025-08-01
[9]
一种压制x-射线荧光分析测试样片的样品托
[P].
梁倩
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梁倩
;
石勇
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0
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石勇
;
孙洪斌
论文数:
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0
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孙洪斌
.
中国专利
:CN201122138Y
,2008-09-24
[10]
X射线荧光分析器
[P].
T·斯托克
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T·斯托克
;
E·罗奈斯
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E·罗奈斯
;
T·希尔顿
论文数:
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T·希尔顿
.
中国专利
:CN102884423A
,2013-01-16
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