全反射单发二阶自相关测量仪

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN02112076.5

申请日：

2002-06-14

公开(公告)号：

CN1385682A

公开(公告)日：

2002-12-18

发明(设计)人：

王兴涛李儒新印定军

申请人：

申请人地址：

201800上海市800－211邮政信箱

IPC主分类号：

G01J1100

IPC分类号：

代理机构：

上海开祺专利代理有限公司

代理人：

李兰英

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2002-12-18	公开	公开
2002-09-18	实质审查的生效	实质审查的生效
2005-06-29	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回
2003-03-12	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

单次定标二阶单发自相关测量仪 [P].

帅斌 ;

李儒新 ;

徐至展 .

中国专利 :CN1162689C ,2002-07-17

[2]

转镜式自相关测量仪 [P].

吴建光 ;

姚劲松 ;

徐冰 ;

张正泉 ;

徐至展 .

中国专利 :CN2275714Y ,1998-03-04

[3]

全反射式发光二极管自相关测量仪 [P].

葛晓春 ;

帅斌 ;

李儒新 .

中国专利 :CN2655206Y ,2004-11-10

[4]

飞秒激光脉冲的自相关测量仪 [P].

钏晔 ;

李儒新 ;

张正泉 ;

印定军 ;

金石琦 .

中国专利 :CN2551982Y ,2003-05-21

[5]

单脉冲自相关测量仪 [P].

王益民 ;

杨晓东 ;

徐至展 .

中国专利 :CN2293817Y ,1998-10-07

[6]

三阶相关测量仪 [P].

张春梅 ;

刘军 ;

李闯 ;

李儒新 ;

梁晓燕 .

中国专利 :CN101034012A ,2007-09-12

[7]

三阶相关测量仪 [P].

张春梅 ;

刘军 ;

李闯 ;

李儒新 ;

梁晓燕 .

中国专利 :CN201003984Y ,2008-01-09

[8]

三阶相关测量仪 [P].

王益民 ;

徐至展 ;

张正泉 .

中国专利 :CN2293816Y ,1998-10-07

[9]

镜反射式超短脉冲自相关测量仪 [P].

张筑虹 .

中国专利 :CN2229077Y ,1996-06-12

[10]

干涉位移测量辅助的自相关测量仪 [P].

刘博文 ;

葛爱晨 ;

陈伟 ;

胡明列 ;

柴路 .

中国专利 :CN106979825B ,2017-07-25

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