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基于扫描振镜的单点去卷积显微系统与成像方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201510603485.8
申请日
:
2015-09-21
公开(公告)号
:
CN105043988B
公开(公告)日
:
2015-11-11
发明(设计)人
:
王超
刘俭
谭久彬
王源
沈成
申请人
:
申请人地址
:
150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
IPC主分类号
:
G01N2101
IPC分类号
:
代理机构
:
哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209
代理人
:
张伟
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2015-11-11
公开
公开
2017-10-13
授权
授权
2015-12-09
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101636485042 IPC(主分类):G01N 21/01 专利申请号:2015106034858 申请日:20150921
共 50 条
[1]
单点去卷积显微系统与成像方法
[P].
刘俭
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刘俭
;
王超
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王超
;
谭久彬
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谭久彬
;
王源
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王源
;
沈成
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沈成
.
中国专利
:CN105044898A
,2015-11-11
[2]
基于双微透镜阵列的图像扫描显微成像方法与装置
[P].
王伟波
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王伟波
;
张宝元
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张宝元
;
吴必伟
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吴必伟
;
谭久彬
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谭久彬
.
中国专利
:CN110967817A
,2020-04-07
[3]
一种基于扫描振镜的成像系统及成像方法
[P].
李骏
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李骏
;
周方明
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周方明
;
马骏
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马骏
.
中国专利
:CN113703250A
,2021-11-26
[4]
一种基于扫描振镜和纳米平移台的显微成像系统及方法
[P].
邓素辉
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邓素辉
;
程培伟
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程培伟
;
胡罗洪
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胡罗洪
;
袁德一
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袁德一
;
伍凯
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伍凯
.
中国专利
:CN114935815A
,2022-08-23
[5]
基于扫描振镜的光电成像跟踪系统
[P].
李超宏
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李超宏
;
鲜浩
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鲜浩
;
饶长辉
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饶长辉
.
中国专利
:CN1815258B
,2006-08-09
[6]
基于扫描振镜的共聚焦与环形全内反射双模式显微镜系统
[P].
匡翠方
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匡翠方
;
杨欣
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杨欣
;
徐良
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徐良
;
李海峰
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李海峰
;
刘旭
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刘旭
;
张克奇
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张克奇
;
毛磊
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毛磊
.
中国专利
:CN108956561A
,2018-12-07
[7]
一种基于扫描振镜的便携式光声显微成像系统及成像方法
[P].
王竹卿
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王竹卿
;
王宇杰
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王宇杰
;
刘童
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刘童
.
中国专利
:CN114699045A
,2022-07-05
[8]
显微镜的成像方法、成像系统和显微镜
[P].
冯云
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冯云
;
肖真
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肖真
.
中国专利
:CN110251078A
,2019-09-20
[9]
基于石英音叉的扫描近场光学显微镜成像系统
[P].
杨惠霞
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杨惠霞
;
漆晓琼
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漆晓琼
;
谢亮
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谢亮
.
中国专利
:CN104777331B
,2015-07-15
[10]
一种基于微振镜扫描的激光气体遥测成像系统及检测方法
[P].
陈海永
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机构:
汉威科技集团股份有限公司
汉威科技集团股份有限公司
陈海永
;
刘欢
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机构:
汉威科技集团股份有限公司
汉威科技集团股份有限公司
刘欢
;
郭东歌
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机构:
汉威科技集团股份有限公司
汉威科技集团股份有限公司
郭东歌
;
李华曜
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机构:
汉威科技集团股份有限公司
汉威科技集团股份有限公司
李华曜
;
杨承霖
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机构:
汉威科技集团股份有限公司
汉威科技集团股份有限公司
杨承霖
;
王俊亚
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汉威科技集团股份有限公司
汉威科技集团股份有限公司
王俊亚
;
杨相玉
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机构:
汉威科技集团股份有限公司
汉威科技集团股份有限公司
杨相玉
.
中国专利
:CN119470335B
,2025-12-16
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