三极管测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN200910109150.5
申请日
2009-07-29
公开(公告)号
CN101625393B
公开(公告)日
2010-01-13
发明(设计)人
高燕辉 韩玉喜 王明珠
申请人
申请人地址
518101 广东省深圳市宝安区新安街道留仙二路鸿辉工业园三号厂房1-4层
IPC主分类号
G01R3126
IPC分类号
代理机构
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
何平
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
三极管测试电路 [P]. 
涂一新 ;
周海清 .
中国专利 :CN102830335A ,2012-12-19
[2]
光敏三极管 [P]. 
朱治中 .
中国专利 :CN216871999U ,2022-07-01
[3]
三极管 [P]. 
郑志男 .
中国专利 :CN104518011B ,2015-04-15
[4]
三极管 [P]. 
郑志男 .
中国专利 :CN104518012A ,2015-04-15
[5]
三极管测试座 [P]. 
高超 ;
戴祖正 ;
蒋件生 .
中国专利 :CN307463042S ,2022-07-22
[6]
三极管测试轨道 [P]. 
李科 .
中国专利 :CN301003513D ,2009-09-09
[7]
三极管测试夹具 [P]. 
陈璨 .
中国专利 :CN202393794U ,2012-08-22
[8]
集成三极管 [P]. 
谷岳生 .
中国专利 :CN201332529Y ,2009-10-21
[9]
集成三极管 [P]. 
于桂宝 .
中国专利 :CN202259308U ,2012-05-30
[10]
集成三极管 [P]. 
谷岳生 .
中国专利 :CN201332528Y ,2009-10-21