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测量方法和测量设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201280070629.2
申请日
:
2012-12-26
公开(公告)号
:
CN104136930A
公开(公告)日
:
2014-11-05
发明(设计)人
:
泷口清昭
须田义大
山边茂之
河野贤司
林达郎
山田耕太郎
正木信男
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G01R2912
IPC分类号
:
G01R2924
G01B700
G01L1700
G01M1702
G01N1902
G01N2700
G01W100
代理机构
:
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
:
刘新宇
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2015-01-14
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101595514095 IPC(主分类):G01R 29/12 专利申请号:2012800706292 申请日:20121226
2014-11-05
公开
公开
2017-04-26
授权
授权
共 50 条
[1]
测量方法和测量设备
[P].
永井胜之
论文数:
0
引用数:
0
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0
永井胜之
.
中国专利
:CN102445195A
,2012-05-09
[2]
测量设备和测量方法
[P].
刘树海
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刘树海
;
王维虎
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王维虎
;
张燕清
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张燕清
;
徐永菊
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徐永菊
.
中国专利
:CN103505194B
,2014-01-15
[3]
测量设备和测量方法
[P].
笠原靖弘
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笠原靖弘
;
酒井良雄
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酒井良雄
;
小野博和
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小野博和
;
辻浩司
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辻浩司
.
中国专利
:CN102334994A
,2012-02-01
[4]
测量方法和测量设备
[P].
J·赖宁克
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J·赖宁克
;
J·科塔尔
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J·科塔尔
;
S·N·L·多纳斯
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S·N·L·多纳斯
;
谢特·泰门·范德波斯特
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谢特·泰门·范德波斯特
.
中国专利
:CN114651214A
,2022-06-21
[5]
测量设备和测量方法
[P].
武藤裕之
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武藤裕之
.
中国专利
:CN102192710A
,2011-09-21
[6]
测量设备和测量方法
[P].
高林志几
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高林志几
;
吉川博志
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吉川博志
.
中国专利
:CN102472613B
,2012-05-23
[7]
测量设备和测量方法
[P].
大野真司
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机构:
松下知识产权经营株式会社
松下知识产权经营株式会社
大野真司
.
日本专利
:CN116482701B
,2025-06-20
[8]
测量设备和测量方法
[P].
关晃仁
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关晃仁
;
冈田隆三
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冈田隆三
.
中国专利
:CN103217147B
,2013-07-24
[9]
测量设备和测量方法
[P].
科比特·罗威尔
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科比特·罗威尔
;
樊尚·阿巴迪
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樊尚·阿巴迪
;
亚当·坦基伦
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亚当·坦基伦
.
中国专利
:CN110535538B
,2019-12-03
[10]
测量设备、距离测量设备和测量方法
[P].
马原久美子
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机构:
索尼半导体解决方案公司
索尼半导体解决方案公司
马原久美子
.
日本专利
:CN113272683B
,2024-11-22
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