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一种高精度电子分析天平

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202121067981.3
申请日：
2021-05-18
公开(公告)号：
CN214893642U
公开(公告)日：
2021-11-26
发明(设计)人：
纪建男
申请人：
申请人地址：
300203 天津市蓟州区经济开发区天成东路5号
IPC主分类号：
G01G2128
IPC分类号：
G01G2110 G01G2108 G01G2300
代理机构：
北京久维律师事务所 11582
代理人：
邢江峰
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-11-26 授权 授权
共 50 条
[1]
一种检测用高精度电子分析天平 [P]. 
王海涛 .
中国专利 :CN213481487U ,2021-06-18
[2]
一种新型高精度分析天平 [P]. 
杨伟健 .
中国专利 :CN207395879U ,2018-05-22
[3]
一种高精度的电子分析天平 [P]. 
李刚培 .
中国专利 :CN221325665U ,2024-07-12
[4]
药物实验高精度电子分析天平 [P]. 
齐安宁 .
中国专利 :CN223485282U ,2025-10-28
[5]
电子分析天平 [P]. 
王治国 .
中国专利 :CN206573204U ,2017-10-20
[6]
一种电子分析天平 [P]. 
岳嵬 .
中国专利 :CN205981430U ,2017-02-22
[7]
一种电子分析天平 [P]. 
蔡亚娟 ;
沙鸥 ;
吴松 .
中国专利 :CN210862892U ,2020-06-26
[8]
一种新型高精度分析天平 [P]. 
刘汝灿 .
中国专利 :CN216483463U ,2022-05-10
[9]
电子分析天平 [P]. 
汪琪 .
中国专利 :CN103697989A ,2014-04-02
[10]
一种新型电子分析天平 [P]. 
李刚培 .
中国专利 :CN220982413U ,2024-05-17
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