一种陶瓷绝缘基片裂痕检测设备

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202121185735.8
申请日
2021-05-28
公开(公告)号
CN215640907U
公开(公告)日
2022-01-25
发明(设计)人
潘国良 潘海欣
申请人
申请人地址
200336 上海市长宁区哈密路780弄5号
IPC主分类号
G01N2188
IPC分类号
G01N2101
代理机构
上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297
代理人
崔巍
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种陶瓷基片裂痕检测装置 [P]. 
王志锋 ;
秦磊 ;
林泽钦 ;
郑振兴 ;
梁鹏 .
中国专利 :CN211660508U ,2020-10-13
[2]
氧化铍陶瓷基片裂痕检测装置 [P]. 
江树昌 ;
陈光明 ;
张健凌 ;
张绍甫 .
中国专利 :CN217212721U ,2022-08-16
[3]
一种电气设备用陶瓷绝缘基片 [P]. 
潘国良 ;
潘海欣 .
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[4]
一种光纤套管裂痕检测设备 [P]. 
俞开磊 ;
王江南 ;
张慧芳 ;
刘云霞 .
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[5]
一种硅片裂痕检测设备 [P]. 
郭新民 ;
郭华明 ;
史树伟 ;
姜利国 .
中国专利 :CN211150522U ,2020-07-31
[6]
一种道路路面裂痕检测设备 [P]. 
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[7]
一种陶瓷生产用裂痕检测装置 [P]. 
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[8]
一种用于陶瓷基片外观的检测装置 [P]. 
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李亚男 .
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[9]
一种金属材料裂痕无损检测设备 [P]. 
段衍超 ;
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[10]
陶瓷基片检测装置 [P]. 
范泽航 ;
陈贵 ;
杨闯 .
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