相机模组老化测试夹具

被引：0

申请号：

CN202221112413.5

申请日：

2022-05-10

公开(公告)号：

CN217283185U

公开(公告)日：

2022-08-23

发明(设计)人：

李英坤陈文龙徐兵燕陈龙姜豪刘风雷

申请人：

申请人地址：

318000 浙江省台州市椒江区星星电子产业区A5号（洪家后高桥村）

IPC主分类号：

H04N1700

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463

代理人：

方晓燕

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-23	授权	授权

共 50 条

[1]

老化测试夹具 [P].

任春茂 ;

刘谊 ;

莫业军 ;

董冰萧 ;

王伟群 ;

谢亮 ;

黄广龙 .

中国专利 :CN223650589U ,2025-12-09

[2]

老化测试夹具 [P].

秦占阳 ;

王亚磊 ;

高森 ;

代华斌 .

中国专利 :CN112240972A ,2021-01-19

[3]

老化测试夹具 [P].

秦占阳 ;

王亚磊 ;

高森 ;

代华斌 .

中国专利 :CN112240972B ,2024-04-19

[4]

一种老化测试夹具 [P].

覃泽锞 .

中国专利 :CN210090513U ,2020-02-18

[5]

相机老化测试装置 [P].

李英坤 ;

陈文龙 ;

徐兵燕 ;

陈龙 ;

姜豪 ;

刘风雷 .

中国专利 :CN217283184U ,2022-08-23

[6]

电池老化测试夹具 [P].

杨利雄 ;

杨龙 .

中国专利 :CN209570622U ,2019-11-01

[7]

芯片老化测试夹具 [P].

陈伟 ;

王强 ;

金永斌 ;

贺涛 ;

丁宁 ;

朱伟 .

中国专利 :CN117368544A ,2024-01-09

[8]

电容测试夹具及电容老化测试系统 [P].

刘宝华 .

中国专利 :CN211653026U ,2020-10-09

[9]

液晶模组老化测试系统 [P].

彭骞 ;

袁帅 ;

徐梦银 ;

肖家波 ;

胡磊 ;

陈凯 ;

沈亚非 .

中国专利 :CN204086738U ,2015-01-07

[10]

一种OLED老化测试夹具 [P].

邱月 ;

粘为进 .

中国专利 :CN217443396U ,2022-09-16

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