高纯锗探测器

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201721718773.9

申请日：

2017-12-11

公开(公告)号：

CN207611150U

公开(公告)日：

2018-07-13

发明(设计)人：

李玉兰李红常建平张智李荐民

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区清华园1号

IPC主分类号：

G01T124

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

胡良均

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-13	授权	授权

共 50 条

[1]

高纯锗探测器 [P].

李玉兰 ;

李红 ;

常建平 ;

张智 ;

李荐民 .

中国专利 :CN107831525A ,2018-03-23

[2]

高纯锗探测器 [P].

田阳 ;

李玉兰 ;

李元景 ;

王学武 .

中国专利 :CN117192595B ,2024-02-02

[3]

高纯锗探测器 [P].

李玉兰 ;

何力 ;

李元景 .

中国专利 :CN113640850A ,2021-11-12

[4]

高纯锗探测器 [P].

张清军 ;

李元景 ;

陈志强 ;

李玉兰 ;

马秋峰 ;

赵自然 ;

刘以农 ;

常建平 .

中国专利 :CN111211197A ,2020-05-29

[5]

高纯锗探测器 [P].

张清军 ;

李元景 ;

陈志强 ;

李玉兰 ;

马秋峰 ;

赵自然 ;

刘以农 ;

常建平 .

中国专利 :CN104749606A ,2015-07-01

[6]

高纯锗探测器 [P].

李玉兰 ;

李元景 .

中国专利 :CN113985471A ,2022-01-28

[7]

高纯锗探测器 [P].

李玉兰 ;

于海军 ;

李元景 .

中国专利 :CN113589355A ,2021-11-02

[8]

高纯锗探测器 [P].

李玉兰 ;

田阳 ;

李元景 .

中国专利 :CN113985470A ,2022-01-28

[9]

高纯锗晶体及高纯锗探测器 [P].

李玉兰 ;

李荐民 ;

王学武 .

中国专利 :CN220290816U ,2024-01-02

[10]

高纯锗探测器定位测量支架 [P].

王仲奇 ;

甘霖 ;

卢文广 .

中国专利 :CN201903655U ,2011-07-20

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