多点式测试机

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201520053994.3
申请日
2015-01-26
公开(公告)号
CN204479666U
公开(公告)日
2015-07-15
发明(设计)人
张杰 涂正德 张明超
申请人
申请人地址
239000 安徽省滁州市国家级经济技术开发区永阳路8号
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
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国省代码
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共 50 条
[1]
芯片多点测试机 [P]. 
李金龙 ;
吴后强 .
中国专利 :CN222939218U ,2025-06-03
[2]
用于光源测试的多点自动推力测试机 [P]. 
杨帆 ;
刘建强 ;
陶洪波 .
中国专利 :CN217846021U ,2022-11-18
[3]
多点点触触摸屏测试机 [P]. 
张斌 .
中国专利 :CN202171626U ,2012-03-21
[4]
具连续式双测试区的测试机 [P]. 
王裕贤 .
中国专利 :CN2567767Y ,2003-08-20
[5]
负载测试机 [P]. 
王杰华 ;
杜卫华 ;
姚鹏 .
中国专利 :CN209673349U ,2019-11-22
[6]
降噪测试机 [P]. 
于海洋 ;
陈繁浩 .
中国专利 :CN216050270U ,2022-03-15
[7]
音效测试机 [P]. 
杨明陆 ;
吕延安 ;
张坤 ;
刘文 .
中国专利 :CN204206464U ,2015-03-11
[8]
测试机具 [P]. 
赵顺贤 .
中国专利 :CN2582006Y ,2003-10-22
[9]
疲劳测试机 [P]. 
惠继恒 ;
芦怀强 ;
金璐 ;
牛恒军 ;
李永恒 .
中国专利 :CN204154491U ,2015-02-11
[10]
预压测试机 [P]. 
马雪峰 .
中国专利 :CN207123446U ,2018-03-20