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坏点检测方法、装置、电子设备和存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202110937969.1
申请日：
2021-08-16
公开(公告)号：
CN113674238A
公开(公告)日：
2021-11-19
发明(设计)人：
李骏 杨志强 刘晓沐
申请人：
申请人地址：
310053 浙江省杭州市滨江区滨安路1187号
IPC主分类号：
G06T700
IPC分类号：
G06T773 G06T500
代理机构：
北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291
代理人：
张洁
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-11-19 公开 公开
2021-12-07 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210816
共 50 条
[1]
坏点检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
李骏 ;
杨志强 ;
刘晓沐 .
中国专利 :CN113674238B ,2024-06-11
[2]
LED显示屏坏点检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
许锋 ;
徐梦梦 ;
石昌金 ;
丁崇彬 .
中国专利 :CN115019704B ,2024-12-17
[3]
LED显示屏坏点检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
许锋 ;
徐梦梦 ;
石昌金 ;
丁崇彬 .
中国专利 :CN115019704A ,2022-09-06
[4]
一种坏点检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
李骏 .
中国专利 :CN110288599A ,2019-09-27
[5]
图像传感器坏点检测方法、系统、存储介质和电子设备 [P]. 
罗文兵 ;
高炽扬 ;
李亚伟 ;
徐海波 ;
刘风华 ;
王亮 ;
杨超 ;
董金奎 ;
汝金星 .
中国专利 :CN115526836A ,2022-12-27
[6]
一种镜头坏点检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈广涛 ;
黄晓燕 ;
何浩玲 .
中国专利 :CN115063342A ,2022-09-16
[7]
关键点检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
代杰 ;
孙新 .
中国专利 :CN118097170A ,2024-05-28
[8]
火点检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
史飞 ;
毛栊哗 .
中国专利 :CN114758290A ,2022-07-15
[9]
火点检测方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
史飞 ;
毛栊哗 .
中国专利 :CN114758290B ,2025-07-11
[10]
关键点检测方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
史雨轩 ;
武伟 .
中国专利 :CN108230357B ,2018-06-29
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