一种测量镶嵌薄膜杨氏模量的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110378267.0

申请日：

2011-11-24

公开(公告)号：

CN102520066A

公开(公告)日：

2012-06-27

发明(设计)人：

肖夏孙远单兴锰

申请人：

申请人地址：

300072 天津市南开区卫津路92号

IPC主分类号：

G01N2907

IPC分类号：

G01N2912

代理机构：

天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201

代理人：

程毓英

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-07-24	授权	授权
2020-12-22	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01N 29/07 登记生效日:20201209 变更事项:专利权人变更前权利人:天津大学变更后权利人:太仓佳诚半导体设备有限公司变更事项:地址变更前权利人:300072 天津市南开区卫津路92号变更后权利人:215400 江苏省苏州市太仓市浮桥镇富桥工业区二期33号
2012-09-05	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101320542800 IPC(主分类):G01N 29/07 专利申请号:2011103782670 申请日:20111124
2012-06-27	公开	公开

共 50 条

[1]

一种用于薄膜杨氏模量测量的系统 [P].

丹特·多伦雷 ;

杨斐 ;

陈琨 ;

路子沫 ;

李艳宁 ;

傅星 ;

胡小唐 .

中国专利 :CN202748307U ,2013-02-20

[2]

一种用于薄膜杨氏模量测量的系统 [P].

丹特·多伦雷 ;

杨斐 ;

陈琨 ;

路子沫 ;

李艳宁 ;

傅星 ;

胡小唐 .

中国专利 :CN102768184A ,2012-11-07

[3]

杨氏模量测量装置 [P].

郭涛 ;

段生贵 ;

曹南斌 ;

杨悦 ;

杜国强 .

中国专利 :CN205607780U ,2016-09-28

[4]

测量杨氏模量的装置 [P].

占必富 ;

陈古礼 ;

惠子 ;

曾凌云 ;

周西 ;

刘涛 .

中国专利 :CN209342531U ,2019-09-03

[5]

杨氏模量测量装置 [P].

隗群梅 ;

蔡宏武 .

中国专利 :CN206057101U ,2017-03-29

[6]

测量杨氏模量装置 [P].

翦知渐 ;

谢中 ;

周艳明 ;

周厚文 .

中国专利 :CN308483312S ,2024-02-23

[7]

杨氏模量测量系统 [P].

杨林京 ;

张成功 ;

黄继阳 .

中国专利 :CN208091821U ,2018-11-13

[8]

一种杨氏模量测量方法 [P].

王可畏 ;

谢杉 ;

娄恋 ;

蒋鑫 ;

袁丁杰 .

中国专利 :CN113340742A ,2021-09-03

[9]

一种杨氏模量测量装置 [P].

田亚芳 ;

刘志强 ;

李讯鹏 .

中国专利 :CN202548019U ,2012-11-21

[10]

一种杨氏模量测量装置 [P].

李玉山 ;

刘红艳 .

中国专利 :CN208043555U ,2018-11-02

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