x射线检查设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200380103521.X

申请日：

2003-10-27

公开(公告)号：

CN100449765C

公开(公告)日：

2005-12-21

发明(设计)人：

H·K·维茨奥雷克

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

H01L27144

IPC分类号：

H01L27146

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

刘红;陈景峻

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-01-07	授权	授权
2005-12-21	公开	公开
2006-02-15	实质审查的生效	实质审查的生效
2018-10-16	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 27/144 申请日:20031027 授权公告日:20090107 终止日期:20171027

共 50 条

[1]

X射线检查装置和X射线检查方法 [P].

竹田明弘 .

中国专利 :CN112925034A ,2021-06-08

[2]

X射线检查装置和X射线检查方法 [P].

竹田明弘 .

日本专利 :CN112925034B ,2025-09-30

[3]

X射线检查装置 [P].

岩井厚司 ;

原田光 ;

万木太 ;

株本隆司 .

中国专利 :CN107250776A ,2017-10-13

[4]

X射线检查设备和X射线检查方法 [P].

平松友幸 ;

林义则 ;

长谷川久士 .

中国专利 :CN1828281A ,2006-09-06

[5]

X射线检查设备 [P].

哈特穆特·克劳斯 .

中国专利 :CN1176772A ,1998-03-25

[6]

X射线检查设备 [P].

池田伦秋 ;

中川幸宽 .

中国专利 :CN109804239B ,2019-05-24

[7]

X射线检查设备 [P].

D.德德里希斯 ;

R.孔泽 ;

C.勒奇 ;

M.拉迪克 .

中国专利 :CN109549657A ,2019-04-02

[8]

X射线检查装置以及X射线检查方法 [P].

七吕真 ;

惠木守 .

中国专利 :CN115078417A ,2022-09-20

[9]

X射线检查装置及X射线检查方法 [P].

金炯骏 ;

申东焕 .

韩国专利 :CN118843788A ,2024-10-25

[10]

X射线检查方法以及X射线检查装置 [P].

益田真之 ;

松波刚 ;

小泉治幸 .

中国专利 :CN101266217A ,2008-09-17

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