用于样品的显微镜检查的显微镜

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110740020.2
申请日
2021-06-30
公开(公告)号
CN113884694A
公开(公告)日
2022-01-04
发明(设计)人
斯特凡·克莱斯特
申请人
申请人地址
德国威茨勒
IPC主分类号
G01N3502
IPC分类号
G02B2100
代理机构
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
代理人
宋融冰
法律状态
公开
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
显微镜和用于显微镜检查的方法 [P]. 
T·安胡特 ;
D·施韦特 ;
M·瓦尔德 .
德国专利 :CN118451353A ,2024-08-06
[2]
显微镜和显微镜检查的方法 [P]. 
丹尼尔·施韦特 ;
蒂莫·安胡特 .
德国专利 :CN113056696B ,2024-05-17
[3]
显微镜和显微镜检查的方法 [P]. 
丹尼尔·施韦特 ;
蒂莫·安胡特 .
中国专利 :CN113056696A ,2021-06-29
[4]
用于检查样品的显微镜及操作这种显微镜的对应方法 [P]. 
斯特凡·克莱斯特 .
中国专利 :CN115128069A ,2022-09-30
[5]
用于显微镜的样品台系统和显微镜 [P]. 
雅各布·哈尔斯特里奇 ;
亚历山大·谢普斯 ;
拉尔夫·兰格 ;
菲利普·霍尔茨 .
德国专利 :CN120703958A ,2025-09-26
[6]
样品制备装置、显微镜检查装置和制备用于显微镜检查的样品的方法 [P]. 
塞巴斯蒂·西默 ;
斯特凡·克莱斯特 .
中国专利 :CN113720838A ,2021-11-30
[7]
针对用于显微镜的探测光的光学组件、用于显微镜检查的方法和显微镜 [P]. 
蒂莫·安胡特 ;
马蒂亚斯·瓦尔德 ;
丹尼尔·施韦特 .
中国专利 :CN110023811B ,2019-07-16
[8]
用于显微镜的支撑装置、显微镜及显微镜载物台 [P]. 
丁建文 .
中国专利 :CN103676127B ,2014-03-26
[9]
用于显微镜的支撑装置、显微镜及显微镜载物台 [P]. 
丁建文 .
中国专利 :CN203720440U ,2014-07-16
[10]
用于检查培养样品的显微镜和包括该显微镜的系统以及相应的方法 [P]. 
马丁·库贝克 .
中国专利 :CN113985591A ,2022-01-28