一种非易失性存储器IP核的测试和验证开发系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201110267041.3

申请日：

2011-09-09

公开(公告)号：

CN103000230A

公开(公告)日：

2013-03-27

发明(设计)人：

雷冬梅赵锋

申请人：

申请人地址：

201206 上海市浦东新区川桥路1188号

IPC主分类号：

G11C2956

IPC分类号：

代理机构：

上海浦一知识产权代理有限公司 31211

代理人：

丁纪铁

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-03-27	公开	公开
2014-02-05	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101689553424 IPC(主分类):G11C 29/56 专利申请号:2011102670413 变更事项:申请人变更前权利人:上海华虹NEC电子有限公司变更后权利人:上海华虹宏力半导体制造有限公司变更事项:地址变更前权利人:201206 上海市浦东新区川桥路1188号变更后权利人:201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号登记生效日:20140108
2016-04-13	授权	授权
2013-04-24	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101444321252 IPC(主分类):G11C 29/56 专利申请号:2011102670413 申请日:20110909

共 50 条

[1]

非易失性存储器的消除和验证 [P].

伊万·杰西·里波罗皮门特尔 ;

豪尔赫·埃内斯普·佩雷斯查莫罗 ;

彼得·布科维简 .

:CN119943112A ,2025-05-06

[2]

非易失性存储器装置和非易失性存储器系统 [P].

李瑟妃 ;

郭东勋 ;

朴钟哲 .

中国专利 :CN111145814A ,2020-05-12

[3]

非易失性存储器器件和包括该器件的非易失性存储器系统 [P].

高獍鍲 ;

李明勋 ;

郭判硕 ;

边大锡 .

中国专利 :CN114639680A ,2022-06-17

[4]

测试非易失性存储器装置的方法和非易失性存储器装置 [P].

郑然旭 ;

李明雨 ;

朴钟哲 .

韩国专利 :CN117912532A ,2024-04-19

[5]

非易失性存储器的擦除验证 [P].

J·莱特 ;

C·达文波特 ;

L·E·小卢西亚尼 .

美国专利 :CN119559988A ,2025-03-04

[6]

非易失性存储器设备和包括非易失性存储器设备的存储器系统 [P].

李淳永 ;

金敬纹 ;

张佑在 ;

朱灿种 .

韩国专利 :CN110246532B ,2024-11-19

[7]

用于测试非易失性存储器的系统和方法 [P].

B·杰奥尔杰斯库 ;

C·宗特 ;

V·拉加万 .

美国专利 :CN120530459A ,2025-08-22

[8]

非易失性存储器装置和包括其的存储器系统 [P].

姜仁昊 ;

金胜渊 ;

金志荣 ;

梁宇成 ;

李在恩 ;

宋基焕 .

韩国专利 :CN117500274A ,2024-02-02

[9]

非易失性存储器以及验证非易失性存储器中的数据的方法 [P].

郑宰镛 .

中国专利 :CN1767069A ,2006-05-03

[10]

非易失性存储器装置和包括其的存储器系统 [P].

千相勋 ;

张世熙 ;

韩智勋 .

韩国专利 :CN118265300A ,2024-06-28

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