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基于热阻的缺陷检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910312817.5
申请日
:
2019-04-18
公开(公告)号
:
CN109975352B
公开(公告)日
:
2019-07-05
发明(设计)人
:
曾正
程临颍
张玉琛
熊露婧
申请人
:
申请人地址
:
400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号
IPC主分类号
:
G01N2520
IPC分类号
:
代理机构
:
重庆市前沿专利事务所(普通合伙) 50211
代理人
:
孔祥超
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-07-30
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 25/20 申请日:20190418
2019-07-05
公开
公开
2021-08-24
授权
授权
共 50 条
[1]
缺陷检测方法以及缺陷检测装置
[P].
畠堀贵秀
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畠堀贵秀
;
田窪健二
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田窪健二
.
中国专利
:CN107462581B
,2017-12-12
[2]
基于多管脚的缺陷检测装置
[P].
陆起涌
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陆起涌
;
陈卫
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陈卫
.
中国专利
:CN205620320U
,2016-10-05
[3]
一种基于低频电磁的缺陷检测装置
[P].
申屠锋营
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申屠锋营
;
楼伟民
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楼伟民
;
沈常宇
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沈常宇
;
王友清
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王友清
.
中国专利
:CN205175963U
,2016-04-20
[4]
一种基于低频电磁的缺陷检测装置
[P].
申屠锋营
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申屠锋营
;
楼伟民
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楼伟民
;
沈常宇
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沈常宇
;
王友清
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王友清
.
中国专利
:CN105353030A
,2016-02-24
[5]
基于红外热成像的产品缺陷检测装置及检测方法
[P].
赵健州
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广东华中科技大学工业技术研究院
广东华中科技大学工业技术研究院
赵健州
;
明五一
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机构:
广东华中科技大学工业技术研究院
广东华中科技大学工业技术研究院
明五一
;
张国军
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广东华中科技大学工业技术研究院
广东华中科技大学工业技术研究院
张国军
;
张臻
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机构:
广东华中科技大学工业技术研究院
广东华中科技大学工业技术研究院
张臻
;
倪明堂
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机构:
广东华中科技大学工业技术研究院
广东华中科技大学工业技术研究院
倪明堂
;
卢亚
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广东华中科技大学工业技术研究院
广东华中科技大学工业技术研究院
卢亚
;
张俊慧
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机构:
广东华中科技大学工业技术研究院
广东华中科技大学工业技术研究院
张俊慧
;
胡顺厂
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机构:
广东华中科技大学工业技术研究院
广东华中科技大学工业技术研究院
胡顺厂
.
中国专利
:CN119715677A
,2025-03-28
[6]
一种基于空气耦合的分层缺陷检测装置
[P].
丁春雄
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机构:
江苏省特种设备安全监督检验研究院
江苏省特种设备安全监督检验研究院
丁春雄
;
俞燕萍
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机构:
江苏省特种设备安全监督检验研究院
江苏省特种设备安全监督检验研究院
俞燕萍
;
朱庆南
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江苏省特种设备安全监督检验研究院
江苏省特种设备安全监督检验研究院
朱庆南
;
郑凯
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机构:
江苏省特种设备安全监督检验研究院
江苏省特种设备安全监督检验研究院
郑凯
;
陈荣华
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机构:
江苏省特种设备安全监督检验研究院
江苏省特种设备安全监督检验研究院
陈荣华
;
郇冬
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江苏省特种设备安全监督检验研究院
江苏省特种设备安全监督检验研究院
郇冬
;
袁颖
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机构:
江苏省特种设备安全监督检验研究院
江苏省特种设备安全监督检验研究院
袁颖
.
中国专利
:CN223332952U
,2025-09-12
[7]
一种基于高次谐波的缺陷检测装置
[P].
王可
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机构:
苏州大弘兴半导体检测技术有限公司
苏州大弘兴半导体检测技术有限公司
王可
;
史明忠
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机构:
苏州大弘兴半导体检测技术有限公司
苏州大弘兴半导体检测技术有限公司
史明忠
.
中国专利
:CN118033526A
,2024-05-14
[8]
一种基于高次谐波的缺陷检测装置
[P].
王可
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机构:
苏州大弘兴半导体检测技术有限公司
苏州大弘兴半导体检测技术有限公司
王可
;
史明忠
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机构:
苏州大弘兴半导体检测技术有限公司
苏州大弘兴半导体检测技术有限公司
史明忠
.
中国专利
:CN118033526B
,2024-07-16
[9]
一种基于X射线的目标缺陷检测装置
[P].
王慧明
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王慧明
;
刘东华
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刘东华
;
耿辰
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耿辰
;
戴亚康
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戴亚康
;
郑健
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郑健
.
中国专利
:CN205229072U
,2016-05-11
[10]
基于多管脚的缺陷检测装置及其检测方法
[P].
陆起涌
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陆起涌
;
陈卫
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陈卫
.
中国专利
:CN105424714A
,2016-03-23
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