测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910623145.X
申请日
2019-07-11
公开(公告)号
CN112213614A
公开(公告)日
2021-01-12
发明(设计)人
邹存伟
申请人
申请人地址
518109 广东省深圳市龙华新区观澜街道大三社区富士康观澜科技园B区厂房4栋、6栋、7栋、13栋(Ⅰ段)
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334
代理人
李艳霞
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试装置 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
美国专利 :CN112309486B ,2024-04-12
[2]
阀体测试装置 [P]. 
施映红 ;
程永超 ;
岑开奇 ;
黄鹏 ;
杨云霞 ;
茅忠群 ;
诸永定 .
中国专利 :CN207036405U ,2018-02-23
[3]
芯片测试装置 [P]. 
蔡振龙 ;
基因·罗森塔尔 .
中国专利 :CN112309486A ,2021-02-02
[4]
阀体测试装置 [P]. 
施映红 ;
程永超 ;
岑开奇 ;
黄鹏 ;
杨云霞 ;
茅忠群 ;
诸永定 .
中国专利 :CN108061642A ,2018-05-22
[5]
隧道式测试装置 [P]. 
陈主荣 .
中国专利 :CN115201656B ,2025-04-11
[6]
隧道式测试装置 [P]. 
陈主荣 .
中国专利 :CN214795102U ,2021-11-19
[7]
热电耦合测试装置 [P]. 
武春风 ;
王文杰 ;
莫尚军 ;
刘林涛 ;
赵天源 .
中国专利 :CN213813821U ,2021-07-27
[8]
冷热疲劳测试装置 [P]. 
钟子强 ;
林细勇 ;
伍文勇 ;
何良波 ;
何旺枝 ;
詹松 .
中国专利 :CN207623120U ,2018-07-17
[9]
测试装置 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN216980634U ,2022-07-15
[10]
测试装置 [P]. 
张邻国 ;
桑子豪 .
中国专利 :CN216771066U ,2022-06-17