时间同步测试方法、测试精度确定方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410569576.X

申请日：

2014-10-22

公开(公告)号：

CN105589328A

公开(公告)日：

2016-05-18

发明(设计)人：

韩柳燕李晗王慧莹王磊

申请人：

申请人地址：

100032 北京市西城区金融大街29号

IPC主分类号：

G04R2002

IPC分类号：

代理机构：

北京派特恩知识产权代理有限公司 11270

代理人：

张颖玲;孟桂超

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-24	授权	授权
2016-05-18	公开	公开
2016-06-15	实质审查的生效	实质审查的生效申请日:20141022 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101665082703 IPC(主分类):G04R 20/02 专利申请号:201410569576X

共 50 条

[1]

时间同步测试方法和装置 [P].

杜喆 ;

蒋铭 ;

汪国荣 ;

朱俊 .

中国专利 :CN108011773A ,2018-05-08

[2]

芯片同步测试装置及芯片同步测试方法 [P].

徐靖林 ;

魏斌 ;

成嵩 ;

杜鹏程 ;

窦志军 ;

王栋 .

中国专利 :CN112130061B ,2024-04-26

[3]

芯片同步测试装置及芯片同步测试方法 [P].

徐靖林 ;

魏斌 ;

成嵩 ;

杜鹏程 ;

窦志军 ;

王栋 .

中国专利 :CN112130061A ,2020-12-25

[4]

时间同步测试方法以及系统 [P].

施家栋 ;

李广 ;

熊维 ;

樊铮 ;

杨河 .

中国专利 :CN116073934B ,2025-10-28

[5]

一种同步测试装置与同步测试方法 [P].

林楷辉 ;

陈宏毅 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN114325335A ,2022-04-12

[6]

一种同步测试装置与同步测试方法 [P].

林楷辉 ;

陈宏毅 ;

倪建兴 .

中国专利 :CN114325335B ,2025-01-14

[7]

同步测试方法及测试系统 [P].

胡锋 ;

马泽民 ;

杨振华 .

中国专利 :CN120821661A ,2025-10-21

[8]

时间同步测试方法、电子设备及存储介质 [P].

杜永振 ;

易纲 ;

张晓龙 ;

郭迪军 ;

奚杨 .

中国专利 :CN117997463A ,2024-05-07

[9]

音画同步测试方法及装置 [P].

刘桂芳 ;

平安 .

中国专利 :CN106358039A ,2017-01-25

[10]

一种基于自动测试系统的同步测试装置及方法 [P].

王庆 .

中国专利 :CN112798925A ,2021-05-14

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