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用于检测综合验光仪的辅助定位装置和光学检测系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201320530292.0
申请日
:
2013-08-28
公开(公告)号
:
CN203443767U
公开(公告)日
:
2014-02-19
发明(设计)人
:
刘文丽
李飞
洪宝玉
张吉焱
马振亚
孙劼
申请人
:
申请人地址
:
100013 北京市朝阳区北三环东路18号
IPC主分类号
:
G01M1102
IPC分类号
:
A61B3103
代理机构
:
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人
:
吴贵明;张永明
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2014-02-19
授权
授权
共 50 条
[1]
用于检测综合验光仪的光学检测装置和发光装置
[P].
刘文丽
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刘文丽
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李飞
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李飞
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洪宝玉
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洪宝玉
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张吉焱
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张吉焱
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马振亚
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马振亚
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孙劼
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孙劼
.
中国专利
:CN203443765U
,2014-02-19
[2]
用于检测综合验光仪的光学系统和光学检测装置
[P].
刘文丽
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刘文丽
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李飞
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李飞
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洪宝玉
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洪宝玉
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张吉焱
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张吉焱
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马振亚
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马振亚
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孙劼
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孙劼
.
中国专利
:CN203443766U
,2014-02-19
[3]
用于检测综合验光仪的光学系统、光学检测装置和方法
[P].
刘文丽
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刘文丽
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李飞
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李飞
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洪宝玉
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洪宝玉
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张吉焱
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张吉焱
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马振亚
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马振亚
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孙劼
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孙劼
.
中国专利
:CN104422583B
,2015-03-18
[4]
光学检测装置和光学检测系统
[P].
崔塔生
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机构:
苏州华兴源创科技股份有限公司
苏州华兴源创科技股份有限公司
崔塔生
.
中国专利
:CN220568643U
,2024-03-08
[5]
综合验光仪辅助验光装置
[P].
焦飞宏
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焦飞宏
;
蒋俊平
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蒋俊平
;
杨姝颖
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杨姝颖
.
中国专利
:CN210810964U
,2020-06-23
[6]
光学检测装置和光学检测系统
[P].
寿景文
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机构:
南京中安半导体设备有限责任公司
南京中安半导体设备有限责任公司
寿景文
;
张毅
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机构:
南京中安半导体设备有限责任公司
南京中安半导体设备有限责任公司
张毅
;
任俊
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机构:
南京中安半导体设备有限责任公司
南京中安半导体设备有限责任公司
任俊
;
甘艳红
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南京中安半导体设备有限责任公司
南京中安半导体设备有限责任公司
甘艳红
;
刘斯禹
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机构:
南京中安半导体设备有限责任公司
南京中安半导体设备有限责任公司
刘斯禹
.
中国专利
:CN117805132A
,2024-04-02
[7]
光学检测装置和光学检测系统
[P].
万家傲
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杭州海康威视数字技术股份有限公司
杭州海康威视数字技术股份有限公司
万家傲
;
翁朝阳
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杭州海康威视数字技术股份有限公司
杭州海康威视数字技术股份有限公司
翁朝阳
;
浦世亮
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机构:
杭州海康威视数字技术股份有限公司
杭州海康威视数字技术股份有限公司
浦世亮
.
中国专利
:CN119224021A
,2024-12-31
[8]
光学检测系统及光学检测装置
[P].
赵迪迪
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赵迪迪
;
李小虎
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李小虎
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李永杰
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李永杰
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熊星
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熊星
;
潘铁伟
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潘铁伟
.
中国专利
:CN217505680U
,2022-09-27
[9]
光学检测装置以及光学检测系统
[P].
朱嘉
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朱嘉
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何涛
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何涛
;
吴欢欢
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吴欢欢
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中国专利
:CN204807475U
,2015-11-25
[10]
综合验光仪辅助验光装置
[P].
程洋
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程洋
.
中国专利
:CN114468980A
,2022-05-13
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