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X射线检测仪(AX7900)
被引:0
专利类型
:
外观设计
申请号
:
CN201530263519.4
申请日
:
2015-07-21
公开(公告)号
:
CN303530361S
公开(公告)日
:
2015-12-30
发明(设计)人
:
刘骏
朱海涛
李立宠
申请人
:
申请人地址
:
214145 江苏省无锡市新区鸿山街道锡协路208-7号
IPC主分类号
:
1005
IPC分类号
:
代理机构
:
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人
:
胡彬
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2015-12-30
授权
授权
共 50 条
[1]
X射线检测仪
[P].
未永
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
天津三英精密仪器股份有限公司
天津三英精密仪器股份有限公司
未永
.
中国专利
:CN308804745S
,2024-08-27
[2]
透视检测设备(X-ray AX7900)
[P].
刘骏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘骏
;
朱海涛
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱海涛
.
中国专利
:CN306510628S
,2021-05-04
[3]
X射线检测仪
[P].
张家鑫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张家鑫
.
中国专利
:CN302991472S
,2014-11-05
[4]
X射线检测仪
[P].
杨德明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨德明
.
中国专利
:CN303088921S
,2015-01-28
[5]
X射线检测仪
[P].
杨德明
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨德明
.
中国专利
:CN303088920S
,2015-01-28
[6]
X射线检测仪
[P].
范真
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
范真
.
中国专利
:CN305052723S
,2019-03-01
[7]
X射线检测仪
[P].
纪海龙
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司
梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司
纪海龙
;
李冬松
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司
梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司
李冬松
;
孙徐
论文数:
0
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0
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0
机构:
梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司
梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司
孙徐
;
傅月清
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司
梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司
傅月清
.
中国专利
:CN309223724S
,2025-04-08
[8]
X射线检测仪(7600)
[P].
徐钻
论文数:
0
引用数:
0
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0
徐钻
.
中国专利
:CN303928174S
,2016-11-23
[9]
X射线检测仪(6600)
[P].
徐钻
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐钻
.
中国专利
:CN303928175S
,2016-11-23
[10]
X射线成像检测仪
[P].
刘壮
论文数:
0
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0
刘壮
;
王刚
论文数:
0
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王刚
;
王运龙
论文数:
0
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0
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0
王运龙
.
中国专利
:CN307148734S
,2022-03-08
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