基于特征对比的半监督工业缺陷检测方法及系统

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申请号
CN202210094096.7
申请日
2022-01-26
公开(公告)号
CN114494780A
公开(公告)日
2022-05-13
发明(设计)人
乐心怡 王钰超 陈彩莲 关新平
申请人
申请人地址
200240 上海市闵行区东川路800号
IPC主分类号
G06V10764
IPC分类号
G06V1082 G06V1048 G06K962 G06N304 G06N308
代理机构
上海汉声知识产权代理有限公司 31236
代理人
胡晶
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
基于特征对比的半监督工业缺陷检测方法及系统 [P]. 
乐心怡 ;
王钰超 ;
陈彩莲 ;
关新平 .
中国专利 :CN114494780B ,2025-07-11
[2]
基于原型记忆引导的自监督工业缺陷检测方法 [P]. 
刘兵 ;
史伟峰 ;
刘明明 ;
刘鹏 .
中国专利 :CN118196051A ,2024-06-14
[3]
基于原型记忆引导的自监督工业缺陷检测方法 [P]. 
刘兵 ;
史伟峰 ;
刘明明 ;
刘鹏 .
中国专利 :CN118196051B ,2025-08-26
[4]
基于交叉局部全局特征的半监督工业品表面缺陷检测方法 [P]. 
李刚 ;
李敏 ;
周鸣乐 ;
李旺 ;
韩德隆 ;
冯正乾 ;
苏占智 .
中国专利 :CN117593304B ,2024-04-26
[5]
基于交叉局部全局特征的半监督工业品表面缺陷检测方法 [P]. 
李刚 ;
李敏 ;
周鸣乐 ;
李旺 ;
韩德隆 ;
冯正乾 ;
苏占智 .
中国专利 :CN117593304A ,2024-02-23
[6]
一种基于自适应去偏的半监督工业缺陷检测方法 [P]. 
刘兆英 ;
陈志远 ;
张婷 ;
时亚南 ;
范效礼 ;
李强 ;
毛民·阿斯哈尔 ;
哈丽旦·艾比布拉 ;
仲芳 ;
王昕 ;
陈飞 .
中国专利 :CN120471890A ,2025-08-12
[7]
基于深度学习的无监督工业品缺陷检测方法及装置 [P]. 
王汉凌 ;
段经璞 ;
汪漪 .
中国专利 :CN112446869A ,2021-03-05
[8]
基于深度学习的无监督工业品缺陷检测方法及装置 [P]. 
王汉凌 ;
段经璞 ;
汪漪 .
中国专利 :CN112446869B ,2025-01-21
[9]
基于多模态专家系统的无监督工业缺陷检测方法、系统及装置 [P]. 
洪景山 ;
胡海根 ;
陈琦 ;
周乾伟 ;
管秋 ;
张笑钦 .
中国专利 :CN120823457A ,2025-10-21
[10]
无监督工业图像边缘缺陷检测方法及装置 [P]. 
姚奇 ;
钟巧勇 ;
谢迪 ;
浦世亮 .
中国专利 :CN120833299A ,2025-10-24