异物清除单元和光学设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201210021592.6
申请日
2012-01-29
公开(公告)号
CN102621690A
公开(公告)日
2012-08-01
发明(设计)人
浦上俊史 大桥海史
申请人
申请人地址
日本东京都大田区下丸子3丁目30番2号
IPC主分类号
G02B2700
IPC分类号
G02B700 H04N5225
代理机构
北京魏启学律师事务所 11398
代理人
魏启学
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
异物清除单元和具有异物清除单元的光学设备 [P]. 
浦上俊史 .
中国专利 :CN102636873A ,2012-08-15
[2]
异物清除设备和包括异物清除设备的光学设备 [P]. 
浦上俊史 .
中国专利 :CN102681168B ,2012-09-19
[3]
光学设备以及从光学设备清除异物的方法 [P]. 
天明良治 .
中国专利 :CN101059641A ,2007-10-24
[4]
光学单元和光学设备 [P]. 
须江猛 ;
笠原章吾 .
日本专利 :CN115220278B ,2024-05-31
[5]
光学元件单元和光学设备 [P]. 
山崎敏宣 .
中国专利 :CN110873994A ,2020-03-10
[6]
光学扫描单元以及光学设备 [P]. 
田中史记 ;
武田大司 ;
种桥健治 ;
藤田健一 .
中国专利 :CN111948804B ,2020-11-17
[7]
成像透镜,成像单元和光学设备 [P]. 
宫崎恭一 ;
饭山智子 ;
朴一武 .
中国专利 :CN100439961C ,2006-10-18
[8]
成像透镜,成像单元和光学设备 [P]. 
饭山智子 ;
宫崎恭一 ;
朴一武 .
中国专利 :CN1849541A ,2006-10-18
[9]
光学设备和光学设备的控制方法 [P]. 
大川聪 .
中国专利 :CN104423009A ,2015-03-18
[10]
光学单元及光学设备 [P]. 
须江猛 ;
南泽伸司 .
日本专利 :CN121232397A ,2025-12-30