位置测量设备和具有这种位置测量设备的装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310093649.8

申请日：

2013-03-22

公开(公告)号：

CN103322910B

公开(公告)日：

2013-09-25

发明(设计)人：

W.霍尔萨普费尔 J.德雷歇尔 M.梅斯纳 R.约尔格 B.穆施 T.克尔贝雷尔

申请人：

申请人地址：

德国特劳恩罗伊特

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01D526 G01D538

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

杜荔南;卢江

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-03-25	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101602574394 IPC(主分类):G01B 11/00 专利申请号:2013100936498 申请日:20130322
2017-10-27	授权	授权
2014-03-26	著录事项变更	著录事项变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101699496516 IPC(主分类):G01B 11/00 专利申请号:2013100936498 变更事项:申请人变更前:约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司变更后:约翰内斯·海德汉博士有限公司变更事项:地址变更前:德国特劳恩罗伊特变更后:德国特劳恩罗伊特
2013-09-25	公开	公开

共 50 条

[1]

量具和具有这种量具的位置测量装置 [P].

S.丰克 ;

P.施佩克巴歇尔 .

中国专利 :CN106996798B ,2017-08-01

[2]

位置测量设备 [P].

U·奥勒特 ;

J·希尔沃库斯 ;

J·施耐德 .

德国专利 :CN120907412A ,2025-11-07

[3]

位置测量设备 [P].

P.施佩克巴歇尔 ;

T.格林德尔 ;

J.魏德曼 ;

A.格雷厄姆 ;

D.拜尔 .

中国专利 :CN105823415A ,2016-08-03

[4]

位置测量设备 [P].

J.奥伯豪泽尔 ;

H.托瓦尔 .

中国专利 :CN103487076A ,2014-01-01

[5]

位置测量设备 [P].

J·施耐德 ;

J·希尔沃库斯 .

德国专利 :CN120907411A ,2025-11-07

[6]

位置测量设备 [P].

U.本纳 .

中国专利 :CN102341676A ,2012-02-01

[7]

位置测量设备和位置测量方法 [P].

阿木智彦 .

中国专利 :CN101943969B ,2011-01-12

[8]

位置测量设备和用于操作位置测量设备的方法 [P].

佐尔坦·坎特 ;

佐尔坦·波利克 ;

迈克尔·弗里德里希 .

中国专利 :CN106104210A ,2016-11-09

[9]

光学位置测量设备 [P].

M·赫尔曼 .

中国专利 :CN102138060A ,2011-07-27

[10]

光学位置测量设备 [P].

W.霍尔扎普费尔 ;

M.赫尔曼 ;

K.森迪希 .

中国专利 :CN102288113A ,2011-12-21

← 1 2 3 4 5 →