点云剖面量测系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310314188.2

申请日：

2013-07-24

公开(公告)号：

CN104344795A

公开(公告)日：

2015-02-11

发明(设计)人：

张旨光吴新元刘义

申请人：

申请人地址：

518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号

IPC主分类号：

G01B2100

IPC分类号：

G01B2104 G01B2122

代理机构：

代理人：

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-03-15	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101747950617 IPC(主分类):G01B 21/00 专利申请号:2013103141882 申请公布日:20150211
2015-02-11	公开	公开

共 50 条

[1]

量测设备离线点云模拟系统及方法 [P].

张旨光 ;

吴新元 ;

张恒 .

中国专利 :CN104573144A ,2015-04-29

[2]

点云间隙与断差量测系统及方法 [P].

张旨光 ;

吴新元 ;

刘义 .

中国专利 :CN103322931A ,2013-09-25

[3]

影像量测系统及方法 [P].

张旨光 ;

吴新元 .

中国专利 :CN104551865A ,2015-04-29

[4]

脉脊点量测系统及其量测方法 [P].

吴贤财 ;

何金山 ;

黄义智 .

中国专利 :CN1927112A ,2007-03-14

[5]

量测卡、量测系统及量测方法 [P].

张育维 ;

杨茆世芳 ;

马天彦 .

中国专利 :CN117804330A ,2024-04-02

[6]

影像量测系统及方法 [P].

张旨光 ;

袁忠奎 ;

蒋理 ;

孙小超 .

中国专利 :CN101196389B ,2008-06-11

[7]

曲面量测系统及方法 [P].

张旨光 ;

吴新元 ;

杨路 .

中国专利 :CN103377303A ,2013-10-30

[8]

点云量测系统及方法 [P].

张旨光 ;

陈利华 ;

吴新元 .

中国专利 :CN100377141C ,2005-05-11

[9]

量测系统、量测方法及存储介质 [P].

熊金磊 ;

范学仕 ;

臧笑妍 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN117781899A ,2024-03-29

[10]

表面量测方法及表面量测系统 [P].

周智川 ;

杨沛哲 ;

陈建国 .

中国专利 :CN108662992B ,2018-10-16

← 1 2 3 4 5 →