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岩土地质勘察用孔深测量装置

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202020074792.8
申请日：
2020-01-14
公开(公告)号：
CN211291292U
公开(公告)日：
2020-08-18
发明(设计)人：
肖道平 侯国伦 邓敏 叶萍 李玉才 盛天培 吕辉
申请人：
申请人地址：
430020 湖北省武汉市江汉区解放大道684号
IPC主分类号：
G01B518
IPC分类号：
代理机构：
北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369
代理人：
刘艺玮
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2020-08-18 授权 授权
共 50 条
[1]
岩土地质勘察用孔深测量装置 [P]. 
赵桂兵 .
中国专利 :CN214537874U ,2021-10-29
[2]
一种岩土地质勘察用孔深测量装置 [P]. 
贾晓东 .
中国专利 :CN214470565U ,2021-10-22
[3]
一种岩土地质勘察用孔深测量装置 [P]. 
赵恒 ;
张刚 ;
刘祥瑞 .
中国专利 :CN222895716U ,2025-05-23
[4]
一种岩土地质勘察用孔深测量装置 [P]. 
王玉敏 .
中国专利 :CN216115801U ,2022-03-22
[5]
一种岩土地质勘察用孔深测量装置 [P]. 
韩辉 ;
王燕 .
中国专利 :CN221259741U ,2024-07-02
[6]
一种岩土地质勘察用孔深测量装置 [P]. 
朱芳芳 ;
董孟杰 .
中国专利 :CN214747705U ,2021-11-16
[7]
一种岩土地质勘察用孔深测量装置 [P]. 
刘本东 .
中国专利 :CN218179828U ,2022-12-30
[8]
一种岩土地质勘察用孔深测量装置 [P]. 
袁峰 .
中国专利 :CN223580893U ,2025-11-21
[9]
一种岩土地质勘察用孔深测量装置 [P]. 
张兰新 ;
马超 ;
毕雯雯 ;
刚什婷 ;
张莉莉 ;
尚宇宁 ;
宋恩武 ;
季冠忠 .
中国专利 :CN222144015U ,2024-12-10
[10]
一种岩土地质勘察用孔深测量装置 [P]. 
汤先明 .
中国专利 :CN217005767U ,2022-07-19
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