测试设备及测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710363937.9

申请日：

2017-05-22

公开(公告)号：

CN107219167A

公开(公告)日：

2017-09-29

发明(设计)人：

王利娜崔富毅张亮王子峰刘洋

申请人：

申请人地址：

100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

IPC主分类号：

G01N1904

IPC分类号：

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

许静;刘伟

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-30	授权	授权
2017-09-29	公开	公开
2017-10-27	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 19/04 申请日:20170522

共 50 条

[1]

测试设备及测试方法 [P].

宁显章 .

中国专利 :CN118604555A ,2024-09-06

[2]

测试设备及测试方法 [P].

石爱明 ;

王张劲 ;

毕红波 .

中国专利 :CN101487867B ,2009-07-22

[3]

测试设备及测试方法 [P].

霍小康 .

中国专利 :CN120044276A ,2025-05-27

[4]

测试装置、测试方法及测试设备 [P].

胡兴亿 ;

张东卫 ;

卢程显 ;

李健龙 ;

杜康 ;

陆贺身 ;

刘金全 ;

李玉辉 .

中国专利 :CN114137386B ,2024-10-18

[5]

测试装置、测试方法及测试设备 [P].

任富佳 ;

艾灵儿 ;

顾明峰 ;

周小虎 .

中国专利 :CN110132590A ,2019-08-16

[6]

测试装置、测试方法及测试设备 [P].

胡兴亿 ;

张东卫 ;

卢程显 ;

李健龙 ;

杜康 ;

陆贺身 ;

刘金全 ;

李玉辉 .

中国专利 :CN114137386A ,2022-03-04

[7]

一种芯片测试设备及测试方法 [P].

沈东 ;

卜建明 ;

贺庭玉 ;

廖剑 ;

柴俊标 ;

余亮 ;

卜予城 .

中国专利 :CN118549426A ,2024-08-27

[8]

测试系统、测试方法、测试设备及存储介质 [P].

陈增亮 ;

李安平 ;

李晓白 ;

刘乐 ;

赵海洋 ;

梅利文 ;

王伟 .

中国专利 :CN118625098A ,2024-09-10

[9]

显示面板测试设备及测试方法 [P].

杜永刚 ;

徐国华 ;

张翼 ;

吴斌 ;

曾鹏 ;

秦卫 .

中国专利 :CN107193139A ,2017-09-22

[10]

测试设备及测试方法 [P].

廖友志 .

中国专利 :CN104048694B ,2014-09-17

← 1 2 3 4 5 →