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一种纳米级三维形貌测量仪
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201921058649.3
申请日：
2019-07-09
公开(公告)号：
CN209961179U
公开(公告)日：
2020-01-17
发明(设计)人：
王孟哲
吴洋
梁正南
李恩全
申请人：
申请人地址：
315300 浙江省宁波市慈溪市附海镇观附公路402号
IPC主分类号：
G01B1124
IPC分类号：
代理机构：
杭州永曙知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33280
代理人：
曹康华
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-01-17 | 授权 | 授权 |