一种小口径微波天线辐射特性测试装置和测试方法

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专利类型
发明
申请号
CN03111549.7
申请日
2003-04-24
公开(公告)号
CN1448727A
公开(公告)日
2003-10-15
发明(设计)人
李明伟 李承斌
申请人
申请人地址
116024辽宁省大连市甘井子区凌工路2号
IPC主分类号
G01R2910
IPC分类号
代理机构
大连理工大学专利中心
代理人
侯明远
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
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