颗粒状物料比表面积测定的设备及其测定方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710070146.3

申请日：

2007-07-20

公开(公告)号：

CN101101255B

公开(公告)日：

2008-01-09

发明(设计)人：

刘子阳涂志龙

申请人：

申请人地址：

323300 浙江省遂昌县西街276号

IPC主分类号：

G01N1500

IPC分类号：

G01B2128

代理机构：

杭州丰禾专利事务所有限公司 33214

代理人：

王鹏举

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-09-09	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101624598844 IPC(主分类):G01N 15/00 专利号:ZL2007100701463 申请日:20070720 授权公告日:20100804 终止日期:20140720
2010-08-04	授权	授权
2008-01-09	公开	公开
2008-02-27	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

颗粒状物料比表面积测定的设备 [P].

刘子阳 ;

涂志龙 .

中国专利 :CN201072401Y ,2008-06-11

[2]

粒状物料比表面积测定仪 [P].

张大同 ;

陈萍 ;

颜碧兰 ;

赵福欣 .

中国专利 :CN2199525Y ,1995-05-31

[3]

页岩微孔的比表面积测定方法 [P].

陈磊 ;

姜振学 ;

姜伟佳 ;

高凤琳 ;

王朋飞 ;

纪文明 ;

温暖 .

中国专利 :CN106323838A ,2017-01-11

[4]

一种比表面积测定装置 [P].

周薇薇 .

中国专利 :CN210982162U ,2020-07-10

[5]

一种测定纳米‑微米带电荷颗粒比表面积的方法 [P].

刘新敏 ;

李航 ;

李睿 ;

田锐 .

中国专利 :CN104406898B ,2015-03-11

[6]

一种基于微波干燥的比表面积测定方法 [P].

谢尧 ;

王婧 ;

胡君龙 ;

王德咏 ;

刘志军 .

中国专利 :CN115165658B ,2025-04-04

[7]

一种电解铜箔比表面积的测定方法 [P].

张雷 ;

李倩倩 ;

杨红光 ;

庞志君 .

中国专利 :CN113176188A ,2021-07-27

[8]

一种比表面积测定保护装置 [P].

井振花 .

中国专利 :CN203132966U ,2013-08-14

[9]

基于流动法测定比表面积的孔道集成模块及测试方法 [P].

张辉 ;

佟美琪 ;

袁畅 ;

回朝妍 ;

高宇 ;

贾梦涵 .

中国专利 :CN113109454A ,2021-07-13

[10]

托盘组件及比表面积测定仪 [P].

杨正红 ;

于海龙 .

中国专利 :CN211043051U ,2020-07-17

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