测试夹具

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201020148511.5
申请日
2010-03-26
公开(公告)号
CN201654074U
公开(公告)日
2010-11-24
发明(设计)人
高云峰 陈建飞 金艳丽 刘林
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区高新技术园北区新西路9号
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
代理机构
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
何平
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
芯片测试夹具 [P]. 
叶本银 .
中国专利 :CN201548571U ,2010-08-11
[2]
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罗祝良 ;
郗旭斌 .
中国专利 :CN305773237S ,2020-05-12
[3]
测试夹具 [P]. 
胡余平 ;
黄国华 ;
朱蔚 ;
陶锋烨 .
中国专利 :CN207832837U ,2018-09-07
[4]
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李冬荣 ;
罗骏 .
中国专利 :CN118209761B ,2025-04-04
[5]
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李垚 .
中国专利 :CN201237609Y ,2009-05-13
[6]
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颜禄兴 ;
郭钜添 .
中国专利 :CN102288792B ,2011-12-21
[7]
测试夹具 [P]. 
何日松 ;
黄建东 .
中国专利 :CN120275800A ,2025-07-08
[8]
测试夹具 [P]. 
李冬荣 ;
罗骏 .
中国专利 :CN118209760A ,2024-06-18
[9]
测试夹具 [P]. 
津村耕平 .
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[10]
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严豪 ;
程鹏 ;
张文柯 ;
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中国专利 :CN305565743S ,2020-01-21