一种大功率可控硅测试台

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510121004.X
申请日
2015-03-19
公开(公告)号
CN104730443A
公开(公告)日
2015-06-24
发明(设计)人
段文宇 李晓辉 王信尧 张国锋 王晔 李德松 王成龙
申请人
申请人地址
250101 山东省济南市历城区工业北路21号
IPC主分类号
G01R3126
IPC分类号
代理机构
济南舜源专利事务所有限公司 37205
代理人
侯绪军
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种大功率可控硅测试台 [P]. 
段文宇 ;
李晓辉 ;
王信尧 ;
张国锋 ;
王晔 ;
李德松 ;
王成龙 .
中国专利 :CN204515080U ,2015-07-29
[2]
一种大功率可控硅测试台 [P]. 
王朝刚 .
中国专利 :CN205193225U ,2016-04-27
[3]
大功率可控硅 [P]. 
许志峰 .
中国专利 :CN103296074A ,2013-09-11
[4]
大功率可控硅 [P]. 
许志峰 .
中国专利 :CN302109913S ,2012-10-03
[5]
大功率可控硅 [P]. 
周国平 ;
高瑜 ;
曾贺 .
中国专利 :CN307222721S ,2022-04-01
[6]
大功率可控硅 [P]. 
许志峰 .
中国专利 :CN202473931U ,2012-10-03
[7]
一种大功率可控硅 [P]. 
周国平 ;
高瑜 ;
曾贺 .
中国专利 :CN216213455U ,2022-04-05
[8]
简易大功率可控硅测试仪 [P]. 
王阿杨 .
中国专利 :CN2754106Y ,2006-01-25
[9]
一种高功率可控硅的测试台 [P]. 
王朝刚 .
中国专利 :CN119619788A ,2025-03-14
[10]
大功率可控硅器件 [P]. 
唐兴军 ;
王亚 .
中国专利 :CN212934599U ,2021-04-09