缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011191743.3

申请日：

2020-10-30

公开(公告)号：

CN112288723A

公开(公告)日：

2021-01-29

发明(设计)人：

牛临潇李诚

申请人：

申请人地址：

100080 北京市海淀区北四环西路58号11层1101-1117室

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T550 G06K946 G06K962

代理机构：

北京中知恒瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 11889

代理人：

吴迪

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-29	公开	公开
2021-02-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20201030

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

周扬 ;

李睿宇 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN115661092A ,2023-01-31

[2]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

陈晓炬 ;

杜松 ;

孙晓嫣 ;

叶美仪 .

美国专利 :CN118446982A ,2024-08-06

[3]

缺陷检测方法及装置、计算机设备、存储介质 [P].

谭毅 ;

胡建强 ;

马超 ;

唐博 ;

束家龙 ;

雷屹坤 .

中国专利 :CN119130955A ,2024-12-13

[4]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

周凯 ;

廖方诚 ;

张孟 ;

吴小飞 ;

曾江东 ;

王珂 ;

王文涛 ;

江银凤 .

中国专利 :CN109300127B ,2019-02-01

[5]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鹏光 ;

冯嘉佩 ;

徐开元 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118447001A ,2024-08-06

[6]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

王楠 ;

王远 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN115661140A ,2023-01-31

[7]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

蒋焘 .

中国专利 :CN111583223A ,2020-08-25

[8]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鹏光 ;

冯嘉佩 ;

徐开元 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118071719A ,2024-05-24

[9]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

张松 ;

刘枢 .

中国专利 :CN120912590A ,2025-11-07

[10]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

周震东 ;

金韵 ;

袁磊 ;

莫宇 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118799248A ,2024-10-18

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