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用于光学抛光片检测台的载片支架

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201921414131.9
申请日：
2019-08-27
公开(公告)号：
CN210879550U
公开(公告)日：
2020-06-30
发明(设计)人：
张文青
申请人：
申请人地址：
271400 山东省泰安市宁阳县八仙桥街道富圣大街西首、酒文化园对过
IPC主分类号：
B25H108
IPC分类号：
B25H110 G01N2125
代理机构：
无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104
代理人：
殷红梅
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2020-06-30 授权 授权
2022-08-09 专利权的终止 未缴年费专利权终止 IPC(主分类):B25H 1/08 申请日:20190827 授权公告日:20200630 终止日期:20210827
共 50 条
[1]
一种用于光学抛光片检测台的载片支架 [P]. 
陆宇 ;
江光成 .
中国专利 :CN208847643U ,2019-05-10
[2]
一种用于光学抛光片检测台的载片支架 [P]. 
陆宇 ;
江光成 .
中国专利 :CN108844896A ,2018-11-20
[3]
一种抛光片检测装置的载片机构 [P]. 
王永 .
中国专利 :CN213225854U ,2021-05-18
[4]
抛光片 [P]. 
葛文志 ;
方俊林 .
中国专利 :CN202710772U ,2013-01-30
[5]
抛光片 [P]. 
潘国强 .
中国专利 :CN202656076U ,2013-01-09
[6]
一种用于光学抛光片的夹持装置 [P]. 
陆宇 ;
江光成 .
中国专利 :CN208847642U ,2019-05-10
[7]
一种用于光学抛光片的曲率检测装置及方法 [P]. 
菅新乐 ;
魏巍 .
中国专利 :CN119714042A ,2025-03-28
[8]
用于抛光机的抛光片 [P]. 
胡杰 ;
曹锡明 ;
黄云飞 .
中国专利 :CN202507188U ,2012-10-31
[9]
一种用于光学抛光片的缺陷检测装置及方法 [P]. 
菅新乐 ;
魏巍 .
中国专利 :CN119688726A ,2025-03-25
[10]
一种用于光学抛光片的缺陷检测装置及方法 [P]. 
菅新乐 ;
魏巍 .
中国专利 :CN119688726B ,2025-06-06
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