测试方法、装置和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010603180.8

申请日：

2020-06-29

公开(公告)号：

CN111782520A

公开(公告)日：

2020-10-16

发明(设计)人：

叶鸿浩程相张冰宇黄群

申请人：

申请人地址：

100140 北京市西城区复兴门内大街55号

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

周达;阚传猛

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-16	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法、装置和电子设备 [P].

叶鸿浩 ;

程相 ;

张冰宇 ;

黄群 .

中国专利 :CN111782520B ,2024-11-12

[2]

测试方法、装置和电子设备 [P].

叶鸿浩 ;

程相 ;

朱凯莉 ;

文国军 .

中国专利 :CN111782518B ,2024-08-16

[3]

测试方法、装置和电子设备 [P].

叶鸿浩 ;

程相 ;

朱凯莉 ;

文国军 .

中国专利 :CN111782518A ,2020-10-16

[4]

测试方法、装置和电子设备 [P].

叶鸿浩 ;

程相 ;

张冰宇 ;

黄群 .

中国专利 :CN111782519B ,2024-08-20

[5]

测试方法、装置和电子设备 [P].

叶鸿浩 ;

程相 ;

张冰宇 ;

黄群 .

中国专利 :CN111782519A ,2020-10-16

[6]

测试方法、装置和电子设备 [P].

张政桢 .

中国专利 :CN111782549A ,2020-10-16

[7]

测试方法、装置和电子设备 [P].

张莉婷 ;

丁超 .

中国专利 :CN114690988B ,2024-01-23

[8]

测试方法和装置、电子设备 [P].

邓政军 .

中国专利 :CN109508289A ,2019-03-22

[9]

测试方法、装置和电子设备 [P].

邹勇 .

中国专利 :CN112306858A ,2021-02-02

[10]

测试方法、装置和电子设备 [P].

张天保 ;

张莉婷 .

中国专利 :CN112380088B ,2024-12-06

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