X射线设备校正方法、成像方法和成像系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011185982.8

申请日：

2020-10-29

公开(公告)号：

CN112294349A

公开(公告)日：

2021-02-02

发明(设计)人：

闫晶陆学飞冷官冀崔凯

申请人：

申请人地址：

201807 上海市嘉定区城北路2258号

IPC主分类号：

A61B600

IPC分类号：

代理机构：

杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250

代理人：

何晓春

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-02-02	公开	公开
2021-02-23	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 6/00 申请日:20201029

共 50 条

[1]

X射线成像系统的校正方法 [P].

倪成 .

中国专利 :CN104783824B ,2015-07-22

[2]

X射线成像方法和X射线成像系统 [P].

翟来娟 ;

滕跃 ;

许勇 ;

杜涛 .

中国专利 :CN105496431A ,2016-04-20

[3]

X射线成像系统、X射线衰减件和X射线成像方法 [P].

潘晓明 .

中国专利 :CN120668693A ,2025-09-19

[4]

X射线成像系统以及X射线成像方法 [P].

王彦 ;

郭兆华 ;

周爱珍 ;

袁梓译 ;

朱超 ;

张传福 ;

V·拉加万 ;

R·布哈特 ;

N·阿加瓦尔 ;

S·库玛 ;

R·佩里亚斯瓦米 .

美国专利 :CN119318494A ,2025-01-17

[5]

X射线成像系统以及X射线成像方法 [P].

贾文成 ;

周凌志 ;

曹有宝 ;

李富生 .

美国专利 :CN119949856A ,2025-05-09

[6]

X射线成像设备和X射线成像系统 [P].

李德云 .

中国专利 :CN103505228A ,2014-01-15

[7]

X射线成像系统和方法 [P].

陈志强 ;

张丽 ;

沈乐 ;

黄清萍 ;

金鑫 .

中国专利 :CN106153646B ,2016-11-23

[8]

X射线成像装置的成像畸变校正方法及校正装置 [P].

邵明昊 ;

郭延恩 ;

唐文彬 ;

吕飞舟 ;

姜建元 .

中国专利 :CN114612323A ,2022-06-10

[9]

用于X射线成像系统的方法、电子设备和X射线成像系统 [P].

费小磊 ;

彭希帅 ;

郭强 .

中国专利 :CN118518692A ,2024-08-20

[10]

X射线成像设备及X射线成像方法 [P].

余文锐 ;

王飞 .

中国专利 :CN111887883A ,2020-11-06

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