散焦深度测量方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202210475190.7

申请日：

2022-04-29

公开(公告)号：

CN115049716A

公开(公告)日：

2022-09-13

发明(设计)人：

李晖陈伟灵何燕成

申请人：

申请人地址：

430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷一路206号

IPC主分类号：

G06T750

IPC分类号：

H04N5232

代理机构：

北京轻创知识产权代理有限公司 11212

代理人：

厉洋洋

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-09-13	公开	公开
2022-09-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/50 申请日:20220429

共 50 条

[1]

散焦深度测量方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

李晖 ;

陈伟灵 ;

何燕成 .

中国专利 :CN115049716B ,2025-01-10

[2]

深度测量方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘国平 ;

向许波 ;

佘中华 ;

刘锦金 ;

张英宜 .

中国专利 :CN112950699A ,2021-06-11

[3]

深度距离测量方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

刘万程 .

中国专利 :CN110488311A ,2019-11-22

[4]

线缆折弯半径测量方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

胡浩 ;

王雪 ;

毕佳鹏 ;

李明高 ;

龚明 ;

杨贺捷 ;

杨明轩 .

中国专利 :CN118111357A ,2024-05-31

[5]

性能测量方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

齐文 ;

王恒 ;

夏旭 ;

赵嵩 .

中国专利 :CN120343609A ,2025-07-18

[6]

眼前节参数测量方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

杨卫华 ;

牟敬锋 ;

潘长凤 ;

刘佳 ;

杨启帆 ;

符昕宇 ;

郭萍 ;

方慧卉 ;

许言午 .

中国专利 :CN119107380B ,2025-05-13

[7]

眼前节参数测量方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

杨卫华 ;

牟敬锋 ;

潘长凤 ;

刘佳 ;

杨启帆 ;

符昕宇 ;

郭萍 ;

方慧卉 ;

许言午 .

中国专利 :CN119107380A ,2024-12-10

[8]

距离测量方法、电子设备及存储介质 [P].

潘武 ;

杨增启 ;

隋小波 ;

吴惠敏 .

中国专利 :CN114838702A ,2022-08-02

[9]

距离测量方法、电子设备及存储介质 [P].

潘武 ;

杨增启 ;

隋小波 ;

吴惠敏 .

中国专利 :CN114838702B ,2024-08-09

[10]

距离测量方法及装置、存储介质及电子设备 [P].

袁鑫 ;

廖斌 ;

陈坚 ;

李宇宙 ;

郭为 .

中国专利 :CN117782030B ,2024-08-20

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